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1. (WO2001091305) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/091305    International Application No.:    PCT/JP2001/004245
Publication Date: 29.11.2001 International Filing Date: 22.05.2001
IPC:
H03M 5/06 (2006.01)
Applicants: THINE ELECTRONICS, INC. [JP/JP]; Matsuda Yaesudori Building 6F 1-10-7, Hatchobori Chuo-ku, Tokyo 104-0032 (JP) (For All Designated States Except US).
NOGAMI, Kazutaka [JP/JP]; (JP) (For US Only).
HAZAMA, Katsuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: NOGAMI, Kazutaka; (JP).
HAZAMA, Katsuki; (JP)
Priority Data:
2000-153862 24.05.2000 JP
Title (EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) CIRCUIT INTEGRE A SEMI-CONDUCTEURS
Abstract: front page image
(EN)A semiconductor integrated circuit for use in encoding and decoding in which circuit scale and power consumption are reduced and cost is reduced by reducing the chip area. The semiconductor integrated circuit for detecting the relation among a plurality of data, each capable of taking one of a plurality of states, comprises a first circuit (101) for comparing the state of a plurality of sets of data and outputting comparison results, a second circuit (102) for converting a plurality of comparison results from the first circuit into a plurality of analog quantities and outputting a sum obtained by adding the analog quantities, a third circuit (103) for outputting a reference analog quantity, and a fourth circuit (104) for comparing the sum of analog quantities outputted from the second circuit with the reference analog quantity outputted from the third circuit.
(FR)L'invention concerne un circuit intégré à semi-conducteurs, utile dans le codage et décodage, et dans lequel l'échelle et la consommation d'énergie sont réduits, de même que le coût de fabrication, par réduction de la surface de la puce. Ce circuit intégré à semi-conducteurs, destiné à détecter la relation entre plusieurs données, capables chacune de prendre un état parmi plusieurs états, comprend un premier circuit (101) servant à comparer l'état de plusieurs ensembles de données et à produire des résultats de comparaison, un second circuit (102) servant à convertir plusieurs résultats de comparaison, provenant du premier circuit, en plusieurs quantités analogiques, et à produire une somme obtenue par addition de ces quantités analogiques, un troisième circuit (103) servant à produire une quantité analogique de référence, et un quatrième circuit (104) servant à comparer la somme des quantités analogiques, produite à partir du second circuit, avec la quantité analogique de référence produite à partir du troisième circuit.
Designated States: CA, CN, IL, IN, KR, RU, SG, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)