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1. (WO2001088709) OBJECT SAMPLING TECHNIQUE FOR RUNTIME OBSERVATIONS OF REPRESENTATIVE INSTANCES THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/088709    International Application No.:    PCT/US2001/040747
Publication Date: 22.11.2001 International Filing Date: 16.05.2001
Chapter 2 Demand Filed:    28.11.2001    
IPC:
G06F 11/34 (2006.01), G06F 12/02 (2006.01)
Applicants: SUN MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 901 San Antonio Road, MS UPAL01-521, Palo Alto, CA 94303 (US)
Inventors: AGESEN, Ole; (US).
GARTHWAITE, Alexander, T.; (US).
HARRIS, Timothy, L.; (GB)
Agent: O'BRIEN, David, W. Zagorin, O'Brien & Graham, LLP; Suite 870, 401 West 15th Street, Austin, TX 78701 (US).
HARRIS, Ian; D. Young & Co., Briton House, Briton Street, Southampton S014 3EB (GB)
Priority Data:
60/204,455 16.05.2000 US
09/855,454 15.05.2001 US
Title (EN) OBJECT SAMPLING TECHNIQUE FOR RUNTIME OBSERVATIONS OF REPRESENTATIVE INSTANCES THEREOF
(FR) TECHNIQUE D'ECHANTILLONNAGE D'OBJETS DESTINEE A DES OBSERVATIONS D'EXECUTION D'INSTANCES REPRESENTATIVES CORRESPONDANTES
Abstract: front page image
(EN)With better knowledge of the behavior of objects in a running application, it is possible to improve execution environment decisions that affect management of such objects. For example, if available, object lifetime statistics could be employed in decisions that affect how and where objects are placed, e.g., on allocation or during operation of automatic dynamic memory management facilities such as a garbage collector. Typically, instrumenting all objects to sample lifetimes or other characteristics would impose an impractical level of overhead. We present a technique for dynamic sampling of a subset of allocated objects that incurs low runtime overheads. Coupled with automatic memory management or collection facilities, this technique allows us to improve the efficiency of a collector by segregating objects, sampled and non-sampled alike, based on observed characteristics such as object lifetime. The sampling techniques facilitate tracking of many kinds of object information. For purposes of illustration, an exemplary implementation is described in which such sampling techniques are exploited to improve performance of generational garbage collectors.
(FR)Avec une meilleure connaissance du comportement des objets dans une application d'exécution, il est possible d'améliorer les décisions environnementales d'exécution qui affectent la gestion de ces objets. Si elles sont disponibles, des statistiques de temps d'exécution d'un objet peuvent être utilisées dans des décisions qui affectent la façon dont les objets sont placés et l'endroit où ils sont placés, à savoir, sur attribution ou durant le fonctionnement des services de gestion de mémoire dynamique automatique tels qu'un nettoyeur de mémoire. Généralement, la définition de tous les objets en durées de vie d'échantillon ou avec d'autres caractéristiques fait supporter un niveau de surcharge peu pratique. Cette invention porte sur une technique d'échantillonnage dynamique d'un sous-ensemble d'objets alloués qui occasionne de faibles surcharges d'exécution. Couplée à la gestion de mémoire automatique ou aux services de collecte, cette technique permet l'amélioration de l'efficacité d'un dispositif de collecte par ségrégation d'objets, échantillonnés ou non échantillonnés, fondés sur des caractéristiques observées telles que la durée de vie de l'objet. Les techniques d'échantillonnage facilitent la localisation de divers types d'informations d'objet. Pour des questions d'illustration, une application exemplaire est décrite, dans laquelle ces techniques d'échantillonnage sont exploitées de manière à améliorer les performances des nettoyeurs de mémoire générationnels.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)