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1. (WO2001088555) LOW COMPLIANCE TESTER INTERFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/088555    International Application No.:    PCT/US2001/015432
Publication Date: 22.11.2001 International Filing Date: 11.05.2001
Chapter 2 Demand Filed:    10.12.2001    
IPC:
G01R 1/04 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Inventors: CASTELLANO, Derek; (US).
BREINLINGER, Keith; (US).
MANNING, Kevin, P.; (US)
Agent: KREISMAN, Lance; 30801 Agoura Road Agoura Hills, CA 91301 (US).
WALSH, Edmund J.; Teradyne, Inc. 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Priority Data:
09/571,563 15.05.2000 US
Title (EN) LOW COMPLIANCE TESTER INTERFACE
(FR) INTERFACE D'ESSAI A FAIBLE COMPLIANCE
Abstract: front page image
(EN)Automatic test equipment adapted for testing a plurality of devices-under-test (DUTs) is disclosed. The automatic test equipment includes a mainframe computer and a test head coupled to the mainframe computer. The test head includes a low-profile tester interface having a first interface board and a device board. The device board engages contact points on the DUTs and includes a topside. A hard stop is mounted to the first interface board and defines a reference plane. The hard stop is adapted to engage the device board topside to vertically fix the device board positionally with respect to the first interface board. The automatic test equipment further includes a compliant interconnect array adapted for compression between the first interface board and the device board.
(FR)L'invention concerne un équipement automatique d'essai conçu pour tester une pluralité de dispositifs à l'essai. Cet équipement automatique d'essai comprend un ordinateur central et une tête d'essai couplée à cet ordinateur central. La tête d'essai comprend une interface d'essai à profil bas comportant une première carte d'interface et une carte de dispositif. La carte de dispositif vient au contact de points de contact sur les dispositifs à l'essai et comprend une face supérieure. Une butée est montée sur la première carte d'interface et définit un plan de référence. Cette butée est conçue pour venir au contact de la face supérieure de la carte de dispositif de manière à fixer verticalement la carte de dispositif par rapport à la première carte d'interface. Ledit équipement automatique d'essai comprend également un ensemble d'interconnexions compliant adapté à une compression entre la première carte d'interface et la carte de dispositif.
Designated States: JP, KR, SG.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)