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1. (WO2001082281) METHOD OF REDUCING ERRORS IN DISPLAYS USING DOUBLE-LINE SUB-FIELD ADDRESSING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/082281    International Application No.:    PCT/EP2001/004129
Publication Date: 01.11.2001 International Filing Date: 10.04.2001
IPC:
G09G 3/20 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventors: LAFFARGUE, Franck; (NL).
VAN DIJK, Roy; (NL).
HOPPENBROUWERS, Jurgen, J., L.; (NL)
Agent: STERKEN, Antoon, J., E.; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
00201481.9 25.04.2000 EP
Title (EN) METHOD OF REDUCING ERRORS IN DISPLAYS USING DOUBLE-LINE SUB-FIELD ADDRESSING
(FR) PROCEDE DE REDUCTION DES ERREURS DANS LES AFFICHAGES A L'AIDE DE SYSTEME D'ADRESSAGE DE SOUS-CHAMPS A DOUBLE LIGNE
Abstract: front page image
(EN)Method of calculating new luminance value data based on original luminance value data to be displayed on a matrix display device, where luminance value data are coded in sub-fields, and double-line addressing for the least significant sub-fields is used for reducing the addressing time. A reduction of the difference between the new data and the original data is obtained by computing a new common value for the least significant sub-fields of a set of neighbouring or adjacent lines, and new values for the most significant sub-fields of each line of said set of adjacent lines. The method comprises embodiments which are applicable to both binary and non-binary sub-fields.
(FR)L'invention concerne un procédé de calcul de nouvelles données de valeurs de luminance, fondées sur les données de valeur de luminance d'origine devant être visualisées sur un dispositif d'affichage à matrice. Selon ce procédé, les données de valeurs de luminance sont codées dans des sous-champs, et un système d'adressage à double ligne est mis en oeuvre pour les sous-champs les moins significatifs afin de réduire le temps d'adressage. Une réduction de différence entre les nouvelles données et les données d'origine est obtenue en calculant une nouvelle valeur commune pour les sous-champs les moins significatifs d'un ensemble de lignes adjacentes ou voisines, et de nouvelles valeurs pour les sous-champs les plus significatifs de chaque ligne dudit ensemble de lignes adjacentes. Ce procédé comprend des modes de réalisation qui peuvent être appliqués aux sous champs binaires et non binaires.
Designated States: CN, JP, KR.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)