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1. (WO2001038820) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE OPTICAL PROPERTIES OF AT LEAST TWO REGIONS LOCATED AT A DISTANCE FROM ONE ANOTHER IN A TRANSPARENT AND/OR DIFFUSE OBJECT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/038820    International Application No.:    PCT/CH2000/000634
Publication Date: 31.05.2001 International Filing Date: 24.11.2000
Chapter 2 Demand Filed:    11.05.2001    
IPC:
A61B 3/10 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01), G01B 11/24 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01)
Applicants: HAAG-STREIT AG [CH/CH]; Gartenstadtstrasse 10, CH-3098 Köniz (CH) (For All Designated States Except US).
WAELTI, Rudolf [CH/CH]; (CH) (For US Only).
SCHMID, Gregor, F. [CH/CH]; (CH) (For US Only)
Inventors: WAELTI, Rudolf; (CH).
SCHMID, Gregor, F.; (CH)
Agent: ROSHARDT, Werner, A.; Keller & Partner Patentanwälte AG, Schmiedenplatz 5, Postfach, CH-3000 Bern 7 (CH)
Priority Data:
2146/99 24.11.1999 CH
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG OPTISCHER EIGENSCHAFTEN WENIGSTENS ZWEIER VONEINANDER DISTANZIERTER BEREICHE IN EINEM TRANSPARENTEN UND/ODER DIFFUSIVEN GEGENSTAND
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE OPTICAL PROPERTIES OF AT LEAST TWO REGIONS LOCATED AT A DISTANCE FROM ONE ANOTHER IN A TRANSPARENT AND/OR DIFFUSE OBJECT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER LES PROPRIETES OPTIQUES D'AU MOINS DEUX SECTEURS DISTANTS L'UN DE L'AUTRE DANS UN OBJET TRANSPARENT ET/OU DIFFUSANT
Abstract: front page image
(DE)Bei dem Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften wenigstens zweier voneinander distanzierter Bereiche (37/39) in einem transparenten und/oder diffusiven Gegenstand (5) mit einer Messzeit im Subsekundenbereich wird der Gegenstand (5) mit einer der Anzahl Bereiche entsprechenden Anzahl Messstrahlen (45, 46) bestrahlt. Jeweils zwei Messstrahlen haben bis auf eine Toleranz zueinander eine optische Wegdifferenz, welche einem geometrischen Abstand jeweils zweier Bereiche (37, 39) entspricht. Jeder von einem der Bereiche (37, 39) reflektierte Reflexionsstrahl der Messstrahlen wird mit einem eine zeitliche, bevorzugt periodische, Weglängenvariation aufweisenden dritten Strahl (13; 60) interferierend überlagert und detektiert.
(EN)The invention relates to a method for measuring the optical properties of at least two regions (37/39) located at a distance from one another in a transparent and/or diffuse object (5) with a measuring period in the subsecond range, the object (5) being irradiated with a number of measuring beams (45, 46) which corresponds to the number of regions. Each two measuring beams have, with the exception of a specific tolerance in relation to each other, an optical path differential, which corresponds to a geometric distance between two respective regions (37, 39). Each reflection beam of the measuring beams reflected from one of said regions (37, 39) is superimposed interferometrically and detected using a third beam (13; 60) which has a temporal, preferably periodic variation in the optical path length.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de mesurer les propriétés optiques d'au moins deux secteurs distants l'un de l'autre (37/39) dans un objet transparent et/ou diffusant (5) dans un temps de mesure inférieur à la seconde, l'objet (5) étant irradié d'un nombre de rayons de mesure (45, 46) correspondant au nombre des secteurs. A part une certaine tolérance, deux rayons de mesure ont une différence de trajectoire optique l'un par rapport à l'autre, qui correspond à un espacement géométrique entre deux secteurs (37, 39). On détecte chaque rayon de mesure réfléchi par un des secteurs (37, 39), auquel est superposé un troisième rayon (13; 60) qui présente une variation de longueur de trajectoire dans le temps, de préférence périodique, et provoque une interférence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)