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1. (WO2001037089) TEST ENVIRONMENT FOR TESTING ELECTRONIC SYSTEMS AND METHOD FOR TESTING SYSTEMS BY MEANS OF A TEST ENVIRONMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/037089    International Application No.:    PCT/DE2000/004050
Publication Date: 25.05.2001 International Filing Date: 17.11.2000
Chapter 2 Demand Filed:    11.06.2001    
IPC:
G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53, 81669 München (DE) (For All Designated States Except US).
BAUER, Matthias [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HENFTLING, Renate [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ECKER, Wolfgang [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: BAUER, Matthias; (DE).
HENFTLING, Renate; (DE).
ECKER, Wolfgang; (DE)
Agent: VIERING, JENTSCHURA & PARTNER; Postfach 22 14 43, 80504 München (DE)
Priority Data:
199 55 595.8 18.11.1999 DE
Title (DE) TESTUMGEBUNG ZUR UNTERSUCHUNG ELEKTRONISCHER SYSTEME UND VERFAHREN ZUM TESTEN VON SYSTEMEN DURCH EINE TESTUMGEBUNG
(EN) TEST ENVIRONMENT FOR TESTING ELECTRONIC SYSTEMS AND METHOD FOR TESTING SYSTEMS BY MEANS OF A TEST ENVIRONMENT
(FR) ENVIRONNEMENT DE TEST DESTINE A L'ANALYSE DE SYSTEMES ELECTRONIQUES ET PROCEDE DE TEST DE SYSTEMES AU MOYEN D'UN ENVIRONNEMENT DE TEST
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Testumgebung zur Untersuchung elektronischer Systeme, wobei die Testumgebung so gestaltet ist, dass sie Testvektoren erzeugt. Erfindungsgemäss ist die Testumgebung in voneinander verschiedene Teile aufgeteilt, wobei wenigstens ein Teil eine Kommunikation mit einem Haupt-Controller aufrechterhält, wobei wenigstens ein weiterer Teil Befehle für das zu testende elektronische System erzeugt, wobei der Teil, der die Kommunikation mit dem Haupt-Controller aufrechterhält, wenigstens teilweise aus programmierbaren Bestandteilen besteht und wobei der Teil, der Stimuli auf wenigstens einem Hardware-Beschleuniger und/oder wenigstens einem zyklenbasierten Simulator erfolgt.
(EN)The invention relates to a test environment that is divided up into sections that are different from one another. At least a part of the environment maintains the communication with a main controller and at least one further part generates the commands for the electronic system to be tested. The part that maintains the communication to the main controller consists of at least partially programmable components and the part that generates the stimuli is designed such that the generation of the stimuli is carried out on at least one hardware accelerator and/or at least one cycle-based simulator.
(FR)L'invention concerne un environnement de test destiné à l'analyse de systèmes électroniques, l'environnement de test étant conçu de manière à produire des vecteurs de test. Selon l'invention, l'environnement de test est divisé en parties différentes, au moins une partie maintenant une communication avec un contrôleur principal, au moins une partie produisant des ordres pour le système électronique à tester, la partie maintenant la communication avec le contrôleur principal étant partiellement composée de composants programmables, et la partie produisant des stimuli étant conçue de manière que la production des stimuli s'effectue sur au moins un accélérateur de matériel et/ou au moins un simulateur à base cyclique.
Designated States: JP, KR, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)