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1. (WO2001035150) SYSTEM FOR INTRODUCING OPTICAL TWEEZERS AND/OR A TREATMENT BEAM INTO A MICROSCOPE
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Pub. No.: WO/2001/035150 International Application No.: PCT/EP2000/010808
Publication Date: 17.05.2001 International Filing Date: 02.11.2000
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G21K 1/00 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
G PHYSICS
21
NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
K
TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
1
Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
Applicants:
WENDENBURG, Ronald [DE/DE]; DE (UsOnly)
HOFFMANN, Anja [DE/DE]; DE (UsOnly)
GREULICH, Karl, Otto [DE/DE]; DE (UsOnly)
MONAJEMBASHI, Shamci [IR/DE]; DE (UsOnly)
UHL, Volker [DE/AT]; AT (UsOnly)
CARL ZEISS JENA GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE (AllExceptUS)
Inventors:
WENDENBURG, Ronald; DE
HOFFMANN, Anja; DE
GREULICH, Karl, Otto; DE
MONAJEMBASHI, Shamci; DE
UHL, Volker; AT
Common
Representative:
CARL ZEISS JENA GMBH; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Priority Data:
199 54 933.810.11.1999DE
Title (EN) SYSTEM FOR INTRODUCING OPTICAL TWEEZERS AND/OR A TREATMENT BEAM INTO A MICROSCOPE
(FR) SYSTEME POUR INTRODUIRE UNE PINCETTE OPTIQUE ET/OU INJECTER UN FAISCEAU DE TRAITEMENT DANS UN MICROSCOPE
(DE) ANORDNUNG ZUR EINKOPPLUNG EINER OPTISCHEN PINZETTE UND/ODER EINES BEARBEITUNGSSTRAHLES IN EIN MIKROSKOP
Abstract:
(EN) The invention relates to a system for introducing at least one beam (L3) of optical tweezers for capturing particles and/or a treatment beam (L2) into the beam path of a microscope, preferably in a laser scanning microscope (O, SC). The inventive system is provided with means (AS) for freely adjusting the position of the beam focus of the optical tweezers and/or the treatment beam so as to change the focal position of the microscope.
(FR) L'invention concerne un système permettant d'injecter au moins un faisceau (L3) de pincette optique pour capter des particules et/ou un faisceau de traitement (L2) dans la trajectoire d'un faisceau microscopique, de préférence dans un microscope à balayage par faisceau laser (O, SC). Selon l'invention, il est prévu des moyens (AS) pour modifier par ajustement libre la position du foyer du faisceau de la pincette optique et/ou du faisceau de traitement en ce qui concerne la modification de la position du foyer du microscope.
(DE) Anordnung zur Einkopplung mindestens eines Strahles (L3) einer optischen Pinzette zum Einfangen von Teilchen und/oder eines Bearbeitungsstrahles (L2) in einen mikroskopischen Strahlengang, vorzugsweise in einem Laser-Scanning-Mikroskop (O, SC), wobei Mittel (AS) zur frei einstellbaren Veränderung der Lage des Strahlfokus der optischen Pinzette und/oder des Bearbeitungsstrahles bezüglich der Veränderung der Fokusposition des Mikroskopes vorgesehen sind.
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Designated States: JP, US
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)