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1. (WO2001034032) X-RAY CT APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/034032    International Application No.:    PCT/JP2000/007902
Publication Date: 17.05.2001 International Filing Date: 09.11.2000
Chapter 2 Demand Filed:    12.01.2001    
IPC:
A61B 6/03 (2006.01)
Applicants: HITACHI MEDICAL CORPORATION [JP/JP]; 1-14, Uchikanda 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101-0047 (JP) (For All Designated States Except US).
TSUJI, Masahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TSUJI, Masahiro; (JP)
Agent: ASAMURA, Kiyoshi; New Ohtemachi Building, Room 331, 2-1, Ohtemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-0004 (JP)
Priority Data:
11/319818 10.11.1999 JP
Title (EN) X-RAY CT APPARATUS
(FR) TOMODENSITOMETRE PAR RAYONS X
Abstract: front page image
(EN)An X-ray source and an X-ray sensor are moved at a pitch smaller than the width of the X-ray sensor. During one movement of this pitch, CT measurement is carried out by 360° rotation of the X-ray source and X-ray sensor. The intensity of X radiation for a slice width narrower than the X radiation effective sensing width is determined by calculation from the X-ray value measured by the X-ray sensor.
(FR)L'invention concerne une source et un capteur de rayons X déplacés selon un pas inférieur à la largeur dudit capteur de rayons X. Au cours d'un déplacement de ce pas, on effectue une mesure tomodensitométrique par rotation de 360° de la source et du capteur de rayons X. On détermine l'intensité du rayon X pour une largeur de tranche plus étroite que la largeur efficace de captage de rayon X, par calcul à partir de la valeur de rayon Y mesurée à l'aide du capteur de rayon X.
Designated States: US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)