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1. (WO2001023872) METHOD OF MEASURING THE GEOMETRY OF GROOVES IN AN ELONGATED ELEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/023872    International Application No.:    PCT/FI2000/000826
Publication Date: 05.04.2001 International Filing Date: 27.09.2000
Chapter 2 Demand Filed:    23.04.2001    
IPC:
G01N 21/952 (2006.01)
Applicants: NEXTROM HOLDING SA [CH/CH]; 29, rue de la Gare, CH-1110 Morgens (CH) (For All Designated States Except US).
LEINVUO, Joni [FI/FI]; (FI) (For US Only).
VIITANEN, Jouko [FI/FI]; (FI) (For US Only).
KORPINEN, Juha [FI/FI]; (FI) (For US Only).
UUSITALO, Jani [FI/FI]; (FI) (For US Only)
Inventors: LEINVUO, Joni; (FI).
VIITANEN, Jouko; (FI).
KORPINEN, Juha; (FI).
UUSITALO, Jani; (FI)
Agent: KOLSTER OY AB; Iso Roobertinkatu 23, P.O. Box 148, FIN-00121 Helsinki (FI)
Priority Data:
19992088 29.09.1999 FI
Title (EN) METHOD OF MEASURING THE GEOMETRY OF GROOVES IN AN ELONGATED ELEMENT
(FR) PROCEDE DE MESURE DE LA GEOMETRIE DE FENTES DANS UN ELEMENT EFFILE
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a method and an arrangement for measuring the geometry of grooves in an elongated element, which grooves (2) extend as continuous grooves over the whole length of the elongated element (1), circling around the element, in which method the surface of the elongated element is scanned by means of a camera (6). In order to achieve simple non-contact measurement, the elongated element (1) is arranged to travel at the vertex through an annular biconical mirror or through a biconical bevelled mirror (3) comprising several plane mirrors, and through a plane mirror structure (4) arranged at an oblique angle relative to the direction of travel of the elongated element (1). An annular laser beam is directed to the plane mirror structure in such a way that the plane mirror structure (4) reflects the beam onto the surface of the elongated element (1) through the outer surface (3a) of the biconical mirror or bevelled cone mirror. The image of the surface profile of the elongated element (1) produced from the surface of the elongated element (1) by means of the inner surface (3b) of the biconical mirror or bevelled cone mirror (3) is turned to one side by means of the plane mirror structure (4) to allow the study of the groove geometry.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un agencement permettant de mesurer la géométrie de fentes dans un élément effilé. Ces fentes (2) s'étendent de façon continue sur toute la longueur de cet élément (1) effilé en tournant autour de cet élément. Dans ce procédé la surface de cet élément effilé est balayée à l'aide d'une caméra (6). Aux fin de réaliser une mesure sans contact, cet élément effilé (1) est agencé de façon à pouvoir se déplacer au niveau du sommet à travers un miroir biconique annulaire ou à travers un miroir (3) biseauté biconique comprenant plusieurs plan de miroir, et à travers une structure (4) de miroir plane agencée selon un angle oblique par rapport à la direction de déplacement de l'élément (1) effilé. On dirige un faisceau laser sur la structure de miroir plane de façon que cette structure (4) réfléchisse ce faisceau sur la surface de l'élément effilé (1) via la surface extérieure (3a) du miroir biconique ou du miroir biseauté biconique. L'image du profil de surface de cet élément effilé (1) produite à partir de la surface de cet élément effilé (1) à l'aide de la surface intérieure (3b) du miroir biconique ou du miroir biseauté biconique (3) est tournée dans un sens par la structure (4) de miroir plane de façon à permettre l'étude de la géométrie des fentes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)