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1. (WO2001006370) SELF-TEST ELECTRONIC ASSEMBLY AND TEST SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/006370    International Application No.:    PCT/US2000/018955
Publication Date: 25.01.2001 International Filing Date: 12.07.2000
Chapter 2 Demand Filed:    15.12.2000    
IPC:
G06F 1/00 (2006.01), G06F 11/00 (2006.01), G06F 11/22 (2006.01), G06F 11/267 (2006.01), G06F 11/273 (2006.01)
Applicants: TIVO, INC. [US/US]; 2160 Gold Street, P.O. Box 2160, Alviso, CA 95002 (US)
Inventors: BARTON, James, M.; (US).
TAHMASSEBI, Shahin; (US).
PLATT, David; (US)
Agent: GLENN, Michael, A.; Glenn Patent Group, Suite L, 3475 Edison Way, Menlo Park, CA 94025 (US)
Priority Data:
09/357,183 19.07.1999 US
Title (EN) SELF-TEST ELECTRONIC ASSEMBLY AND TEST SYSTEM
(FR) ENSEMBLE ELECTRONIQUE D'AUTO-TEST ET SYSTEME DE CONTROLE
Abstract: front page image
(EN)A self-test electronic assembly performs self-testing, such as diagnostic or run-in testing of components and circuits, based upon internally stored test procedures. The results of self-testing are stored internally to the device, providing valuable information regarding the self-test electronic assembly, both during the manufacturing process, and preferably for ongoing in-situ operation. A test system is preferably linked to one or more self-test electronic assemblies, and provides loopback circuitry for each installed self-test electronic assembly, whereby the self-test electronic assemblies can further test components, circuitry, and security encoding and decoding operation. The preferred test rack also provides efficient and consistent monitoring and quality control over the self-testing of self-test electronic assemblies. During in-situ operation, the self-test electronic assemblies preferably monitor operating parameters, and continue to periodically perform self-testing, while storing the information within the device, and preferably transmitting the information to an external location.
(FR)Dans cette invention, un ensemble d'auto-test effectue des opérations d'auto-test, notamment le diagnostic ou le test, de composants et de circuits en rodage, sur la base de procédures de test enregistrées. Les résultats de l'auto-test sont mémorisés dans une mémoire interne du dispositif, et fournissent des informations utiles concernant l'ensemble électronique d'auto-test, à la fois lors du processus de fabrication, et de préférence au cours du fonctionnement in situ. Un système de test est de préférence relié à un ou plusieurs ensembles électroniques d'auto-test, celui-ci fournissant des circuits en boucle pour chaque ensemble électronique d'auto-test monté, ces ensembles électronique d'auto-test pouvant également tester des composants, des circuits, et les opérations de codage et de décodage de sécurité. L'armoire d'essai préférée permet également d'effectuer une surveillance et un contrôle de qualité efficaces et cohérents de l'auto-test des ensembles électroniques d'auto-test. Au cours du fonctionnement in situ, les ensembles électroniques d'auto-test surveillent de préférence les paramètres de fonctionnement, et continuent d'effectuer périodiquement l'auto-test, tout en mémorisant les informations dans le dispositif, et de préférence, tout en transmettant ces informations à un endroit externe.
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)