WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2001006296) HIGH Q-FACTOR MICRO TUNING FORK BY THIN OPTICAL FIBER FOR NSOM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/006296    International Application No.:    PCT/CA2000/000846
Publication Date: 25.01.2001 International Filing Date: 20.07.2000
Chapter 2 Demand Filed:    09.02.2001    
IPC:
G01Q 60/18 (2010.01)
Applicants: MOSKOVITS, Martin [CA/US]; (US).
SHELIMOV, Konstantin, B. [RU/CA]; (CA).
DAVYDOV, Dmitri, N. [RU/CA]; (CA).
HASLETT, Thomas, L. [CA/CA]; (CA)
Inventors: MOSKOVITS, Martin; (US).
SHELIMOV, Konstantin, B.; (CA).
DAVYDOV, Dmitri, N.; (CA).
HASLETT, Thomas, L.; (CA)
Agent: HILL & SCHUMACHER; 87 Falcon Street, Toronto, Ontario M4S 2P4 (CA)
Priority Data:
60/144,627 20.07.1999 US
Title (EN) HIGH Q-FACTOR MICRO TUNING FORK BY THIN OPTICAL FIBER FOR NSOM
(FR) MICRO FOURCHETTE D'ETALONNAGE A FACTEUR Q ELEVE FORMEE PAR UNE FIBRE OPTIQUE MINCE ET DESTINEE A UN MICROSCOPE NSOM
Abstract: front page image
(EN)A perpendicular-mode near-field scanning optical microscope (NSOM) utilizing a piezoelectric micro tuning fork as its height-sensing element is described. The present invention provides a method and apparatus for modifying and attaching an optical fiber to the tuning fork that allows the assembly to retain Q-factors up to 9000, substantially higher than those described so far in the literature for tuning-fork-based instruments. The method involves reducing the diameter of the cladding of the optical fiber down to the 17-25 $g(m)m using several chemical etching steps, before the fiber is attached to the tuning fork. A sharp upturn in the Q-factor is observed when the fiber diameter d drops below $m(k)25 $g(m)m. An analysis, which shows that the stretching force constant of a bent fiber is proportional to d4, is used to account for the great sensitivity of the Q-factor to the fiber diameter. The high Q-factors resulted in improved force sensitivity and allowed us to construct a perpendicular mode instrument without the use of additional dithering piezoelements. An improved NSOM operating in the shear force mode is also provided by thinning the optical fiber length running down the length of one of the tines to a thickness in the range from about 50 to 60 $g(m)m.
(FR)On décrit un microscope à champ proche optique (MCPO) à mode perpendiculaire dans lequel l'élément de détection de la hauteur utilisé est une micro-fourchette d'étalonnage piézo-électrique. La présente invention concerne un procédé et un appareil qui permettent de modifier et d'attacher une fibre optique à la fourchette d'étalonnage pour permettre ainsi à l'ensemble de maintenir les facteurs Q jusqu'à 9000, ces facteurs étant sensiblement plus élevés que ceux décrits jusqu'à présent dans la littérature pour des instruments construits avec une fourchette d'étalonnage. Le procédé consiste à réduire le diamètre du revêtement de la fibre optique jusqu'à 17-25 $g(m)m au moyen de diverses étapes de gravure chimique avant de fixer la fibre à la fourchette d'étalonnage. On observe une brusque remontée du facteur Q lorsque le diamètre d de la fibre diminue en dessous de $m(k)25 $g(m)m. Une analyse, qui montre que la constante de force d'étirement d'une fibre courbe est proportionnelle à d4, est utilisée pour rendre compte de la forte sensibilité du facteur Q au diamètre de la fibre. Ces facteurs Q élevés ont produit une sensibilité améliorée à la force et nous ont permis de construire un instrument à mode perpendiculaire sans utiliser d'éléments piézo-électriques de juxtaposition supplémentaires. Un MCPO amélioré opérant en mode force de cisaillement est également produit, pour ce faire, on réduit sur sa longueur, la fibre optique courant sur la longueur d'une des dents à une épaisseur comprise entre environ 50 et 60 $g(m)m.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)