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1. (WO2001006271) A TEST SOCKET AND METHOD FOR TESTING AN IC DEVICE IN A DEAD BUG ORIENTATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/006271    International Application No.:    PCT/US2000/019169
Publication Date: 25.01.2001 International Filing Date: 13.07.2000
Chapter 2 Demand Filed:    14.02.2001    
IPC:
G01R 1/04 (2006.01)
Applicants: CERPROBE CORPORATION [US/US]; 3387 Investment Boulevard, Hayward, CA 94545 (US)
Inventors: BARABI, Nasser; (US)
Agent: BEESON, Donald, L.; Suite 2360, One Kaiser Plaza, Oakland, CA 94612 (US)
Priority Data:
60/144,059 14.07.1999 US
Title (EN) A TEST SOCKET AND METHOD FOR TESTING AN IC DEVICE IN A DEAD BUG ORIENTATION
(FR) SUPPORT ET PROCEDE D'ESSAI D'UN DISPOSITIF DE CIRCUIT INTEGRE DONT LES CONTACTS SONT ORIENTES VERS LE HAUT
Abstract: front page image
(EN)A test socket (11) for testing an optical IC device in a dead bug orientation includes a socket body (13) with a device under test cavity (DUT cavity) (17) for receiving an optical IC device under test (optical DUT) (47) in a contact-up or dead bug orientation. The DUT cavity (17) has a bottom wall (91) with at least one aperture (95) through which the photoactive side of the optical DUT held in the cavity can be illuminated. An outer array of axial contact elements (53) arranged about the DUT cavity provides conductive paths through the socket body. The test socket (11) further includes a plunger assembly (25) insertable into the DUT cavity (17) of the socket body (13) having an inner array of axial contact elements (51) which extend through the plunger assembly and which are configured to provide contact with the contacts on the contact side (45) of the optical DUT. A transverse conductor bridge (55) at the top of the plunger assembly (25) provides a transverse electrical path connecting the inner array of axial contact elements (51) of the plunger assembly and the outer array of axial contact elements (53) of the socket body when the plunger assembly is inserted into the DUT cavity. An electrical path is thereby provided between the contacts of the contact optical DUT and the bottom of the socket body mounted to the DUT board through the plunger assembly and socket body.
(FR)Ce support (11), destiné à l'essai d'un dispositif optique à circuit intégré dont les contacts sont orientés vers le haut, comprend un corps (13) comportant une cavité (17) de dispositif à tester, destinée à recevoir un dispositif optique à circuit intégré, à tester (47), dont les contacts sont orientés vers le haut. Cette cavité (17) comporte une paroi inférieure (91) dotée d'au moins une ouverture (91) à travers laquelle peut être éclairé le côté photosensible du dispositif optique à tester logé dans la cavité. Un ensemble extérieur d'éléments de contact axiaux (53) agencés autour de la cavité du dispositif à tester forme des trajets conducteurs à travers le corps du support (11), lequel support comprend en outre un ensemble pistons (25) pouvant s'insérer dans la cavité (17) du corps (13), qui présente un ensemble extérieur d'éléments de contact axiaux (51) s'étendant à travers l'ensemble pistons et conçus pour établir le contact avec les contacts situés côté contact (45) du dispositif optique. Un pont conducteur transversal (55) situé au sommet de l'ensemble pistons (25) forme un trajet électrique transversal connectant l'ensemble intérieur d'éléments de contact axiaux (51) de l'ensemble pistons avec l'ensemble extérieur d'éléments de contact axiaux (53) du corps du support, lors de l'insertion de l'ensemble pistons dans la cavité du dispositif à tester. De cette manière, un trajet électrique se forme entre les contacts du dispositif optique à tester et le fond du corps du support monté sur la plaquette du dispositif à tester, par l'intermédiaire de l'ensemble pistons et du corps du support.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)