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1. (WO2001006205) METHOD AND SYSTEM FOR INCREASING THE ACCURACY OF A PROBE-BASED INSTRUMENT MEASURING A HEATED SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2001/006205 International Application No.: PCT/US2000/019218
Publication Date: 25.01.2001 International Filing Date: 14.07.2000
Chapter 2 Demand Filed: 15.02.2001
IPC:
G01B 5/28 (2006.01) ,G01B 7/34 (2006.01) ,G01N 23/00 (2006.01) ,G01N 25/00 (2006.01) ,G21K 7/00 (2006.01)
Applicants: VEECO INSTRUMENTS, INC.[US/US]; Terminal Drive Plainview, NY 11803, US
Inventors: DANIELS, Robert; US
MAGONOV, Sergei; US
Agent: NILLES, Andrew, J.; Nilles & Nilles, S.C. Firstar Center, Suite 2000 777 East Wisconsin Avenue Milwaukee, WI 53202, US
Priority Data:
09/354,44815.07.1999US
Title (EN) METHOD AND SYSTEM FOR INCREASING THE ACCURACY OF A PROBE-BASED INSTRUMENT MEASURING A HEATED SAMPLE
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DESTINES A AMELIORER LA PRECISION D'UN INSTRUMENT MUNI D'UNE SONDE MESURANT UN ECHANTILLON CHAUFFE
Abstract: front page image
(EN) A method of operating a probe-based instrument comprises placing a probe of the probe-based instrument in an operative state in which the probe interacts with a heated sample (402), measuring a parameter of probe operation indicative of a characteristic of the heated sample (403), and during the measuring step, maintaining interaction between the probe and the heated sample that is substantially free of influences caused by condensation on the probe. The maintaining step includes heating the probe to a temperature at which the measured parameter of probe operation is substantially free of influences caused by condensation on the probe (404). Heating the probe reduces or eliminates the formation of condensation on the probe from water or materials that have evaporated from the heated sample. This invention is especially useful in connection with atomic force microscopes and other probe-based instruments.
(FR) L'invention concerne un procédé d'actionnement d'un instrument muni d'une sonde consistant à placer un instrument muni d'une sonde dans un état de fonctionnement dans lequel la sonde interagit avec un échantillon chauffé (402), à mesurer un paramètre de fonctionnement de sonde indicatif d'une caractéristique d'un échantillon chauffé (403), et durant l'étape de mesure, à maintenir une interaction entre la sonde et l'échantillon chauffé qui est sensiblement dépourvu des influences provoquées par la condensation sur la sonde. L'étape de maintien comprend le chauffage de la sonde à une température à laquelle le paramètre mesuré du fonctionnement de la sonde est sensiblement dépourvu des influences provoquées par la condensation sur la sonde (404). Le chauffage de la sonde réduit ou élimine la formation de la condensation, d'eau ou de matières qui se sont évaporées de l'échantillon chauffé, sur la sonde. Plus particulièrement, la présente invention est utile dans le cadre de microscopes à forces atomiques et d'autres instruments munis de sonde.
Designated States: JP
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)