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1. (WO2001004789) SAMPLING FUNCTION WAVEFORM DATA GENERATING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/004789    International Application No.:    PCT/JP2000/004570
Publication Date: 18.01.2001 International Filing Date: 10.07.2000
Chapter 2 Demand Filed:    20.11.2000    
IPC:
G06F 1/03 (2006.01), G06F 1/035 (2006.01), G06F 17/10 (2006.01)
Applicants: SAKAI, Yasue [JP/JP]; (JP) (For All Designated States Except US).
KOYANAGI, Yukio [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KOYANAGI, Yukio; (JP)
Agent: AMAGAI, Masahiko; Amagai Tokkyo Jimusyo, Kitashinjuku OC Building, 2nd floor, 8-15, Kitashinjuku 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 169-0074 (JP)
Priority Data:
11/195516 09.07.1999 JP
Title (EN) SAMPLING FUNCTION WAVEFORM DATA GENERATING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE GENERATION DE DONNEES SUR FORME D'ONDE A FONCTION D'ECHANTILLONNAGE
Abstract: front page image
(EN)A sampling function waveform data generating device for fast generating data on a waveform approximating a sampling function with a simple circuit structure. Data on a waveform of a step function is outputted from a memory (20). A first digital integrating circuit (30) integrates the data on waveform of the step function and outputs data on a waveform of a broken-line function. A second digital integrating circuit (40) integrates the data on the waveform of the broken-line function and outputs data on a waveform approximating a sampling function. The outputted sampling function is a finite support function that is differentiable once, takes on 1 in sampling position t=0, 0 in all the other sampling positions, 0 in the ranges t<-3 and t$m(g)+3, and a value other than 0 in the other range, and converges to 0 in sampling positions t=±3.
(FR)Cette invention concerne un dispositif de génération de données de forme d'onde à fonction d'échantillonnage qui permet de générer rapidement des données sur une forme d'onde représentant une approximation d'une fonction d'échantillonnage, ceci à l'aide d'une structure de circuit simple. Les données sur une forme d'onde d'une fonction étape sont émises depuis une mémoire (20). Un premier circuit d'intégration numérique (30) intègre les données sur une forme d'onde de la fonction étape, et émet les données sur une forme d'onde d'une fonction ligne brisée. Un second circuit d'intégration numérique (40) intègre les données sur une forme d'onde de la fonction ligne brisée, et émet les données sur une forme d'onde représentant une approximation d'une fonction d'échantillonnage. La fonction d'échantillonnage émise est une fonction de support finie qui est différenciable une fois, qui représente 1 en position d'échantillonnage t=0, 0 dans toutes les autres positions d'échantillonnage, 0 dans les plages t<-3 et t$m(g)+3 et une valeur autre que 0 dans l'autre plage, et qui tend vers 0 dans les positions d'échantillonnage t=±3.
Designated States: CN, JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)