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1. (WO2001001212) A METHOD OF SUPERVISING OR CONTROLLING A DEVICE BY MEANS OF A COMPUTER MODEL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2001/001212    International Application No.:    PCT/EP2000/005787
Publication Date: 04.01.2001 International Filing Date: 22.06.2000
Chapter 2 Demand Filed:    05.01.2001    
IPC:
G05B 23/02 (2006.01)
Applicants: SAAB AB [SE/SE]; S-581 88 Linköping (SE) (For All Designated States Except US).
WICKSTRÖM, Sören [SE/SE]; (SE) (For US Only)
Inventors: WICKSTRÖM, Sören; (SE)
Agent: BERGLUND, Stefan; Bjerkéns Patentbyrå KB, Östermalmsgatan 58, S-114 50 Stockholm (SE)
Priority Data:
9902401-0 23.06.1999 SE
Title (EN) A METHOD OF SUPERVISING OR CONTROLLING A DEVICE BY MEANS OF A COMPUTER MODEL
(FR) PROCEDE DE SUPERVISION ET DE COMMANDE D'UN DISPOSITIF AU MOYEN D'UN MODELE INFORMATIQUE
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns a method of supervising or controlling a real device (4) by means of a computer model (6) of the device. The real device (4) is operated (12) and the computer model (6) is run (14). The device (4) and the computer model (6) are thereby fed with (10) and/or execute the same data. Parameters concerning the state of the device (4) are registered (16). The corresponding parameters concerning the state of the computer model (6) are determined (18). The parameters concerning the state of the device (4) are compared (20) with the corresponding parameters concerning the state of the computer model (6). An assessment is done (22) whether deviations between said parameters concerning the state constitute normal deviations. At least one measure is carried out (28-34) when a non-normal deviation is detected.
(FR)La présente invention concerne un procédé de supervision et de commande d'un dispositif réel (4) au moyen d'un modèle informatique (6) du dispositif. Le dispositif réel (4) est mis en marche (12) et le modèle informatique (6) est lancé (14). Le dispositif (4) et le modèle informatique (6) reçoivent (10) et/ou exécutent de ce fait les même données. Les paramètres concernant l'état du dispositif (4) sont répertoriés (16). Les paramètres correspondant concernant l'état du modèle informatique (6) sont déterminés (18). Les paramètres concernant l'état du dispositif (4) sont comparés (20) avec les paramètres correspondant concernant l'état du modèle informatique (6). Une évaluation est réalisée (22) afin de déterminer si les écarts entre lesdits paramètres d'état correspondent à des écarts normaux. Au moins une mesure est réalisée (28-34) lorsqu'un écart anormal est détecté.
Designated States: AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)