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1. (WO2000062015) METHOD OF CALIBRATING A SCANNING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2000/062015    International Application No.:    PCT/GB2000/001315
Publication Date: 19.10.2000 International Filing Date: 07.04.2000
IPC:
G01B 21/04 (2006.01)
Applicants: RENISHAW PLC [GB/GB]; New Mills, Wotton-under-Edge, Gloucestershire GL12 8JR (GB) (For All Designated States Except US).
MCMURTRY, David, Roberts [IE/GB]; (GB) (For US Only).
SUTHERLAND, Alexander, Tennant [GB/GB]; (GB) (For US Only).
WRIGHT, David, Allan [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: MCMURTRY, David, Roberts; (GB).
SUTHERLAND, Alexander, Tennant; (GB).
WRIGHT, David, Allan; (GB)
Agent: WAITE, John; Renishaw PLC, Patent Dept., New Mills, Wotton-under-Edge, Gloucestershire GL12 8JR (GB)
Priority Data:
9907868.5 08.04.1999 GB
Title (EN) METHOD OF CALIBRATING A SCANNING SYSTEM
(FR) PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)A method of calibrating a scanning system comprising a machine and a measuring probe, includes the steps of error mapping the system statically and qualifying the stylus tip so that the system will provide accurate measurements, determining the positions of a number of datum points on the surface of an artefact with the probe stylus in contact with the workpiece and at zero deflection normal to the surface, scanning the surface through the datum points at a nominal stylus deflection and at the maximum speed which provides repeatable position measurements to make a second determination of the positions of the datum points, determining the errors attributable to the scanning process by subtracting the positions obtained in the first and second determinations, and storing the error values for correction of subsequent measurements of similar artefacts.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système de balayage comprenant un appareil et une sonde de mesure. Ledit procédé consiste à soumettre le système à une mise en correspondance d'erreurs de manière statique et à définir le diamètre de la pointe du stylet de manière à ce que ledit système fournisse des mesures précises, à déterminer les positions d'un certain nombre de points de référence sur la surface d'un artéfact, le stylet de la sonde étant en contact avec la surface et présentant une déflexion nulle perpendiculaire à cette surface, à balayer ladite surface en passant par les points de référence à une déflexion de stylet nominale et à une vitesse maximale permettant des mesures de position répétées afin de déterminer une seconde fois les positions des points de référence, à déterminer les erreurs attribuables au procédé de balayage en soustrayant les positions obtenues pendant la première et la seconde détermination, et à stocker les valeurs erronées afin de pouvoir corriger les mesures suivantes d'artéfacts similaires.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)