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1. (WO2000062013) DEVICE FOR MEASURING THE DIMENSION AND CONTROLLING OF DEFECTS IN OPTICAL FIBRES DURING PRODUCTION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2000/062013    International Application No.:    PCT/FR2000/000889
Publication Date: 19.10.2000 International Filing Date: 07.04.2000
IPC:
G01B 11/10 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01)
Applicants: FARDEAU, Jean-François [FR/FR]; (FR)
Inventors: FARDEAU, Jean-François; (FR)
Priority Data:
99/04553 08.04.1999 FR
Title (EN) DEVICE FOR MEASURING THE DIMENSION AND CONTROLLING OF DEFECTS IN OPTICAL FIBRES DURING PRODUCTION
(FR) DISPOSITIF POUR LA MESURE DIMENSIONNELLE ET LE CONTRÔLE DES DEFAUTS DES FIBRES OPTIQUES EN PRODUCTION
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns a method and a design for an apparatus for high-speed and high precision absolute measurement of the diameter of transparent fibres and the control of internal and surface defects. Said invention uses a phenomenon of interferometry. It is based on the combination of a digital processing of the signal for the absolute measurement of the diameter of fibres and the detection of very small defects and a method of analog processing for fast high resolution measurement and real time detection of the defects. The apparatus comprises an optical assembly (4) projecting the interferometry signal on two linear sensors (6 and 7), each connected to a digital (8) and analog (9) signal processing card. The combination of digital and analog measurements enable to provide fast and absolute measurement of the diameter.
(FR)La présente invention concerne une méthode et la conception d'un appareil pour la mesure absolue à grande vitesse et de grande précision du diamètre des fibres transparentes et le contrôle des défauts internes et superficiels. Cette invention utilise un phénomène d'interférométrie. Elle s'appuie sur l'association d'une méthode de traitement numérique du signal pour la mesure absolue du diamètre des fibres et la détection des très petits défauts et d'une méthode de traitement analogique pour les mesures rapides de grande résolution et la détection temps réel des défauts. L'appareil comprend un ensemble optique (4) projetant le signal d'interférométrie sur deux capteurs linéaires (6 et 7), reliés chacun à une carte de traitement des signaux, numérique (8) et analogique (9). L'association des mesures numériques et analogiques permet de fournir une mesure absolue et rapide du diamètre.
Designated States: CN, JP, KR, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)