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1. (WO2000029830) REFRACTOMETER AND METHOD FOR QUALITATIVE AND QUANTITATIVE MEASUREMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2000/029830    International Application No.:    PCT/US1999/026981
Publication Date: 25.05.2000 International Filing Date: 12.11.1999
IPC:
G01N 33/543 (2006.01), G01N 33/544 (2006.01), G01N 33/551 (2006.01)
Applicants: LEICA MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 3362 Walden Avenue Buffalo, NY 14240-0123 (US) (For All Designated States Except US).
RYAN, Thomas, E. [US/US]; (US) (For US Only).
BYRNE, Michael, J. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: RYAN, Thomas, E.; (US).
BYRNE, Michael, J.; (US)
Agent: VIKSNINS, Ann, S.; Schwegman, Lundberg, Woessner & Kluth P.O. Box 2938 Minneapolis, MN 55402 (US)
Priority Data:
60/108,414 13.11.1998 US
60/142,207 02.07.1999 US
Title (EN) REFRACTOMETER AND METHOD FOR QUALITATIVE AND QUANTITATIVE MEASUREMENTS
(FR) REFRACTOMETRE ET PROCEDE DE MESURES QUALITATIVES ET QUANTITATIVES
Abstract: front page image
(EN)A sensor apparatus and associated method for sensing and monitoring specific binding of analyte to an immobilized binding layer are disclosed. The apparatus preferably comprises an automatic critical angle refractometer (22) having a linear scanned array and an optical system for illuminating a portion of the array, which illumination depends upon the refractive index of the binding layer deposited on an optically transparent element. The apparatus further includes a flow cell (28) for bringing the analyte in contact with the binding layer (51). A preferred sensing method of the present invention generally comprises providing a critical angle refractometer generating light impinging upon the immobilized binding layer, contacting the binding layer with a contacting phase (59), measuring the critical angle of total reflection, which measurements are indicative of the presence or absence of interaction between the analyte and binding layer.
(FR)La présente invention concerne un appareil de détection et un procédé associé permettant de détecter et de surveiller la fixation spécifique d'un analyte sur une couche de liaison immobilisée. De préférence, cet appareil comprend un réfractomètre à angle critique automatique (22) comportant un réseau exploré linéaire et un système optique servant à illuminer une partie du réseau, laquelle illumination dépend de l'indice de réfraction de la couche de liaison déposée sur un élément optiquement transparent. Par ailleurs, cet appareil comprend une cuve à circulation (28) permettant d'amener l'analyte en contact avec la couche de liaison (51). Dans cette invention, un procédé préféré de détection consiste en général à fournir un réfractomètre à angle critique générant une lumière dirigée sur la couche de liaison immobilisée, à mettre en contact la couche de liaison avec une phase de contact (59), à mesurer l'angle critique de la réflexion totale, ces mesures indiquant la présence ou l'absence d'interaction entre l'analyte et la couche de liaison.
Designated States: AE, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)