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1. (WO2000028802) MEASURING SYSTEM REPEATABLE BANDWIDTH FOR SIMULATION TESTING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2000/028802    International Application No.:    PCT/US1999/026915
Publication Date: 25.05.2000 International Filing Date: 12.11.1999
Chapter 2 Demand Filed:    02.06.2000    
IPC:
G01M 7/02 (2006.01)
Applicants: MTS SYSTEMS CORPORATION [US/US]; 14000 Technology Drive Eden Prairie, MN 55344-2290 (US)
Inventors: BROWN, Roger, G.; (US).
MANN, Douglas, S.; (US).
LUND, Richard, A.; (US)
Agent: VELDHUIS-KROEZE, John, D.; Westman, Champlin & Kelly, P.A. International Centre Suite 1600 900 2nd Avenue South Minneapolis, MN 55402-3319 (US)
Priority Data:
60/108,295 13.11.1998 US
  12.11.1999 US (Considered void 15.03.2000)
Title (EN) MEASURING SYSTEM REPEATABLE BANDWIDTH FOR SIMULATION TESTING
(FR) SYSTEME DE MESURE DE BANDE REPETABLE POUR ESSAIS DE SIMULATION
Abstract: front page image
(EN)A system and method for identifying characteristics of a physical system (10) applies substantially identical drive ensembles (115, 117) to the physical system (10) and obtains corresponding responses (21) from the physical system (10). A repeatable bandwidth of the physical system (10) is estimated as a function of the applied drive ensembles (115, 117) and the corresponding obtained responses (21). Instructions can be provided on a computer readable medium to perform the method.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé d'identification des caractéristiques d'un système physique (10). Le procédé consiste à appliquer des ensembles de commandes (115, 117) sensiblement identiques au système physique (10) et à obtenir du système physique (10) des réponses (21) correspondantes. Une largeur de bande répétable du système physique (10) est estimée en fonction des ensembles de commandes (115, 117) appliquées et des réponses (21) correspondantes obtenues. Ce procédé peut être exécuté au moyen d'instructions contenues sur un support lisible par ordinateur.
Designated States: JP, KR.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)