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1. (WO2000026649) X-RAY DIFFRACTION APPARATUS WITH AN X-RAY OPTICAL REFERENCE CHANNEL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2000/026649    International Application No.:    PCT/EP1999/007497
Publication Date: 11.05.2000 International Filing Date: 05.10.1999
IPC:
G01N 23/20 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventors: VAN DEN HOOGENHOF, Waltherus, W.; (NL)
Agent: BAKKER, Hendrik; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
98203658.4 29.10.1998 EP
Title (EN) X-RAY DIFFRACTION APPARATUS WITH AN X-RAY OPTICAL REFERENCE CHANNEL
(FR) APPAREIL A DIFFRACTION DE RAYONS X AVEC UNE VOIE DE REFERENCE OPTIQUE DE RAYONS X
Abstract: front page image
(EN)X-ray diffraction measurements are often carried out in a given atmosphere which may vary in respect of a variety of parameters, such as pressure, temperature, etc. Notably soft X-rays are very sensitive to atmospheric absorption. Therefore, the measured intensity is dependent not only on the material variables to be measured for the sample to be examined (10), but also on the varying absorption which thus constitutes a disturbing influencing of the X-rays in the X-ray optical path (16, 46, 50, 10, 52) from the X-ray source (7) to the detector (30). According to the invention a second X-ray optical path (54, 56, 58, 60) is established; this second path deviates from the first X-ray optical path and serves to carry out reference measurements, during or between the actual measurements, in order to determine the absorption of the atmosphere and to determine a correction factor for the X-ray intensity measured during the actual measurements.
(FR)Des mesures de diffraction de rayons X sont souvent réalisées dans une atmosphère donnée qui peut varier en fonction de divers paramètres, comme la pression, la température, etc.es rayons X à faible énergie sont notamment très sensibles à l'absorption atmosphérique. Par conséquent, l'intensité mesurée dépend non seulement des variables des matériaux à mesurer pour l'échantillon à examiner (10) mais également de l'absorption variable, et de ce fait constitue une influence perturbatrice des rayons X dans la trajectoire optique (16, 46, 50, 10, 52) de ces rayons depuis la source (7) de rayons X jusqu'au détecteur (30). Selon l'invention, une deuxième trajectoire optique (54, 56, 58, 60) de ces rayons est établie. Cette deuxième trajectoire dévie de la première trajectoire optique de rayons X et permet d'effectuer des mesures de référence, pendant ou entre les mesures réelles pour déterminer l'absorption de l'atmosphère et pour définir un facteur de correction pour l'intensité de rayons X mesurée pendant les mesures réelles.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)