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1. (WO1999042807) PLATE GLASS SHATTER TESTING METHOD, DEVICE, IMAGING METHOD FOR GLASS TESTING AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1999/042807    International Application No.:    PCT/JP1999/000698
Publication Date: 26.08.1999 International Filing Date: 18.02.1999
IPC:
G01N 3/30 (2006.01), G01N 21/86 (2006.01), G01N 21/896 (2006.01), G01N 33/38 (2006.01)
Applicants: ASAHI GLASS COMPANY LTD. [JP/JP]; 1-2, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku Tokyo 100-0005 (JP) (For All Designated States Except US).
NIPPON CONTROL SYSTEM CORPORATION [JP/JP]; 13-7, Hiroo 1-chome Shibuya-ku Tokyo 150-0012 (JP) (For All Designated States Except US).
SAITO, Hitoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAJIMA, Tetsuo [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SAITO, Hitoshi; (JP).
TAJIMA, Tetsuo; (JP)
Agent: OGAWA, Toshiharu; Torimoto Kogyo Building 38, Kanda-Higashimatsushitacho Chiyoda-ku Tokyo 101-0042 (JP)
Priority Data:
10/37679 19.02.1998 JP
Title (EN) PLATE GLASS SHATTER TESTING METHOD, DEVICE, IMAGING METHOD FOR GLASS TESTING AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE TEST DE BRIS DE GLACE, PROCEDE D'IMAGERIE CORRESPONDANT, ET PROCEDE DE TRAITEMENT DE SIGNAUX D'IMAGES
Abstract: front page image
(EN)A projected image of shattered glass is directly picked up electronically with a sheet screen disposed on one face of a sample glass. After a gray image signal is binarized with a threshold value changed in accordance with the brightness of the background in the picked up gray image, the number of shatter chips, the area of the largest chip and the length of the longest chip are calculated. In this way, a shatter test with excellent work efficiency and accuracy can be conducted by directly picking up the sample glass image and performing an automatic processing for calculating the number of shatter chips.
(FR)L'invention concerne une image projetée de verre brisé, qui est directement captée électroniquement au moyen d'un écran plat disposé sur l'une des faces d'un échantillon de verre. Après binarisation d'un signal d'image grise avec une valeur seuil modifiée selon la brillance du fond de l'image grise récupérée, le nombre d'éclats de verre, la surface de l'éclats le plus grand et la longueur de l'éclat le plus long sont calculés. Ainsi, un test de bris de glace d'une efficacité et d'une précision excellentes peut être conduit par prise directe de l'image de l'échantillon de verre et traitement automatique destiné à calculer le nombre d'éclats.
Designated States: US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)