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1. (WO1999041662) MEASUREMENT SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1999/041662    International Application No.:    PCT/GB1999/000488
Publication Date: 19.08.1999 International Filing Date: 17.02.1999
Chapter 2 Demand Filed:    15.09.1999    
IPC:
G01N 15/14 (2006.01)
Applicants: CAMBRIDGE CONSULTANTS LIMITED [GB/GB]; Science Park Milton Road Cambridge CB4 4DW (GB) (For All Designated States Except US).
SEWELL, Roger, Fane [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: SEWELL, Roger, Fane; (GB)
Agent: BERESFORD, Keith, Denis, Lewis; Beresford & Co. 2-5 Warwick Court High Holborn London WC1R 5DJ (GB)
Priority Data:
9803368.1 17.02.1998 GB
Title (EN) MEASUREMENT SYSTEM
(FR) SYSTEME DE MESURE
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns measurement apparatus for obtaining measurements relating to an attribute or attributes $g(u) of a succession of events in which an event generates a measurable physical reaction, the apparatus comprising generating means for generating a value D representing the physical reaction caused by an event, and inferential processing means for deriving the marginal distributions of a probability distribution for the attribute or attributes $g(u) of the events by carrying out a Bayesian inferential process utilising the value D, the marginal values of a prior probability distribution and a stored set of values representing a range of probability distributions for the occurrence of each of the events being measured, the inferential process being an iterative process in which the marginals posterior to one event are generated by updating the marginals prior to that event.
(FR)La présente invention concerne un appareil de mesure permettant d'obtenir des mesures relatives à un ou plusieurs attributs $g(u) d'une succession d'événements parmi lesquels un événement produit une réaction physique mesurable, cet appareil comprenant un générateur servant à produire une valeur D représentant la réaction physique causée par un événement, ainsi qu'un dispositif de traitement inférentiel servant à dériver les distributions marginales d'une distribution de probabilités pour le/les attributs $g(u) de ces événements, en appliquant le processus d'inférence bayésienne utilisant la valeur D, les valeurs marginales d'une distribution de probabilités ultérieure et un ensemble de valeurs mémorisé représentant une gamme de distributions de probabilités pour l'occurrence de chacun des événements en phase de mesure, le processus inférentiel étant un processus itératif dans lequel les marginales postérieures à un événement sont produites par la mise à jour des marginales avant chaque événement.
Designated States: US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)