WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1999040449) OPTICALLY DRIVEN DRIVER, OPTICAL OUTPUT TYPE VOLTAGE SENSOR, AND IC TESTING EQUIPMENT USING THESE DEVICES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1999/040449    International Application No.:    PCT/JP1998/000478
Publication Date: 12.08.1999 International Filing Date: 05.02.1998
IPC:
G01R 31/311 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome Nerima-ku Tokyo 179-0071 (JP) (For All Designated States Except US).
OKAYASU, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: OKAYASU, Toshiyuki; (JP)
Agent: KUSANO, Takashi; Sagami Building 2-21, Shinjuku 4-chome Shinjuku-ku Tokyo 160-0022 (JP)
Priority Data:
Title (EN) OPTICALLY DRIVEN DRIVER, OPTICAL OUTPUT TYPE VOLTAGE SENSOR, AND IC TESTING EQUIPMENT USING THESE DEVICES
(FR) CIRCUIT D'ATTAQUE EXCITE OPTIQUEMENT, DETECTEUR DE TENSION DE TYPE A SORTIE OPTIQUE ET MATERIEL DE TEST DE CIRCUITS INTEGRES UTILISANT CES DISPOSITIFS
Abstract: front page image
(EN)In an IC testing equipment constituted of a main frame which stores electronic circuit devices including a pattern generator, a waveform generator, and a logic comparator and a test head, an optically driven driver and an optical output type voltage sensor are installed at the test head side and, at the main frame side, test pattern signals outputted from the waveform generator are converted to optical signals by means of optical signal converters, and the optical signals are transmitted to the head by means of optical waveguides to drive the optically driven driver mounted on the test head and then the optical signals are converted to an electrical signal, which is supplied to an IC to be tested. A response signal outputted from the IC to be tested is given to the optical output type voltage sensor and then the optical output type voltage sensor transmits the voltage signal outputted from the IC to be tested as an optical signal, which is transmitted to the main frame. By this method, an IC testing equipment which is capable of rapid operation can be provided.
(FR)La présente invention concerne un matériel de test de circuits intégrés comportant une structure principale renfermant des dispositifs de circuits électroniques comprenant un générateur de modèles, un générateur de formes d'ondes, un comparateur logique et une tête de test, un circuit d'attaque excité optiquement et un détecteur de tension de type à sortie optique sont montés du côté de la tête de test et du côté de la structure principale, des signaux de modèles de test produits par le générateur de formes d'ondes sont convertis en signaux optiques au moyen de convertisseurs de signaux optiques, ces signaux optiques sont ensuite transmis à ladite tête par des guides d'ondes optiques afin de commander le circuit d'attaque excité optiquement monté sur la tête de test, les signaux optiques étant ensuite convertis en un signal électrique fourni à un circuit intégré à tester. Un signal de réponse produit par le circuit intégré à tester est fourni au détecteur de tension de type à sortie optique, le capteur de tension de type à sortie optique transmettant ensuite le signal de tension ainsi produit par le circuit intégré à tester, sous la forme d'un signal optique qui sera ensuite transmis à la structure principale. Ce procédé permet ainsi d'obtenir un matériel capable d'un fonctionnement rapide.
Designated States: CN, DE, GB, JP, KR, SG, US.
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)