WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1999040445) OPTICAL PROBE FOR PROXIMITY FIELD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1999/040445    International Application No.:    PCT/JP1999/000514
Publication Date: 12.08.1999 International Filing Date: 05.02.1999
IPC:
G01Q 70/02 (2010.01), G11B 7/22 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01), G01Q 60/18 (2010.01), G01Q 60/22 (2010.01), G01Q 70/06 (2010.01), G01Q 70/16 (2010.01), G11B 7/135 (2012.01), G01Q 20/02 (2010.01)
Applicants: SEIKO INSTRUMENTS INC. [JP/JP]; 8, Nakase 1-chome Mihama-ku Chiba-shi Chiba 261-8507 (JP) (For All Designated States Except US).
MITSUOKA, Yasuyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
CHIBA, Norio [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KASAMA, Nobuyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NIWA, Takashi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NAKAJIMA, Kunio [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MITSUOKA, Yasuyuki; (JP).
CHIBA, Norio; (JP).
KASAMA, Nobuyuki; (JP).
NIWA, Takashi; (JP).
NAKAJIMA, Kunio; (JP)
Agent: HAYASHI, Keinosuke; 1493, Sendabori Matsudo-shi Chiba 270-2252 (JP)
Priority Data:
10/24801 05.02.1998 JP
Title (EN) OPTICAL PROBE FOR PROXIMITY FIELD
(FR) SONDE OPTIQUE POUR CHAMP DE PROXIMITE
Abstract: front page image
(EN)An optical probe for a proximity field having a fine aperture for generating and/or scattering a proximity field and capable of being formed into arrays for increasing the intensity of the generated and/or scatted proximity field and being suitable for use as an optical memory head, wherein a flat plate lens having a fine lens is disposed on a plane substrate through which an inverted cone-shaped hole is formed with its top as the above aperture and a light source for emitting a ray of light incident on the flat plate lens is disposed above the lens. Since the focus of the lens is positioned at the fine aperture, a ray of light from the light source is efficiently condensed to the fine aperture. The above structure uses a silicon process to permit array-based production and mass-production of the optical probe, providing an applicability to an optical memory head.
(FR)L'invention porte sur une sonde optique de champ de proximité qui comporte une fine ouverture destinée à générer et/ou diffuser un champ de proximité pouvant former une matrice de façon à augmenter l'intensité du champ de proximité généré et/ou diffusé, cette sonde étant appropriée pour être utilisée comme tête de mémoire optique. Une lentille plate comportant une lentille fine est placée sur un substrat plan dans lequel est formé un trou en forme de cône renversé dont la partie supérieure est utilisée comme orifice supérieur. Une source lumineuse, émettant un rayon de lumière tombant en incidence sur la lentille plate, est placée au-dessus de la lentille. Le point focal de la lentille étant situé au niveau de l'orifice fin, un rayon de lumière provenant de la source lumineuse se condense alors de manière efficace dans l'orifice fin. La structure précitée utilise un processus au silicium permettant de produire en série, en partant d'une matrice, la sonde optique pouvant être appliquée sur une tête de mémoire optique.
Designated States: US.
European Patent Office (DE, FR, GB).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)