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1. (WO1999009745) MOTION ESTIMATION METHOD AND APPARATUS EMPLOYING SUB-SAMPLING TECHNIQUE
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Pub. No.: WO/1999/009745 International Application No.: PCT/KR1998/000241
Publication Date: 25.02.1999 International Filing Date: 07.08.1998
Chapter 2 Demand Filed: 26.02.1999
IPC:
H04N 19/50 (2014.01) ,H04N 19/105 (2014.01) ,H04N 19/136 (2014.01) ,H04N 19/176 (2014.01) ,H04N 19/196 (2014.01) ,H04N 19/503 (2014.01) ,H04N 19/51 (2014.01) ,H04N 19/53 (2014.01) ,H04N 19/537 (2014.01) ,H04N 19/57 (2014.01) ,H04N 19/59 (2014.01)
[IPC code unknown for H04N 19/50][IPC code unknown for H04N 19/105][IPC code unknown for H04N 19/136][IPC code unknown for H04N 19/176][IPC code unknown for H04N 19/196][IPC code unknown for H04N 19/503][IPC code unknown for H04N 19/51][IPC code unknown for H04N 19/53][IPC code unknown for H04N 19/537][IPC code unknown for H04N 19/57][IPC code unknown for H04N 19/59]
Applicants:
DAEWOO ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 541, 5-ga, Namdaemoon-ro Jung-gu Seoul 100-095, KR
Inventors:
KWAK, Chang, Min; KR
Agent:
JANG, Seong, Ku; 275, Yangjae-dong Seocho-gu Seoul 137-130, KR
Priority Data:
1997/3853213.08.1997KR
Title (EN) MOTION ESTIMATION METHOD AND APPARATUS EMPLOYING SUB-SAMPLING TECHNIQUE
(FR) PROCEDE D'ESTIMATION DE DEPLACEMENT ET APPAREIL METTANT EN OEUVRE UNE TECHNIQUE DE SOUS-ECHANTILLONNAGE
Abstract:
(EN) In an apparatus (300) for performing motion estimation (ME) on a block of NxM pixels in a current frame based on a predetermined reference frame (RF), a block divider (202) divides the block into subblocks (SB's) of KxL pixels and then classifies the SB's into A-group SB's and B-group SB's in accordance with the rule that all of the SB's in a same group be diagonally adjacent to each other. A first and a second decision circuits (204, 206) decide pixels satisfying a first and a second predetermined conditions among the pixels in the ASB's as A-group representative pixels (ARP's) and in the BSB's as B-group representative pixels (BRP's), respectively, wherein the first predetermined condition is different from the second predetermined condition. A sample block generator (208) combines the ARP's with the BRP's to generate a sample block. And then, RF sub-sampling circuit (210) generates a sample RF (SRF) by sub-sampling the predermined RF in accordance with the same sub-sampling method described above. A best matching candidate block (CB) detector (220), based on the sample block and the SRF, detects a CB having a smallest error value to the sample block among CB's within the SRF as a best matching CB (BMCB) by using a predetermined block matching method. And a motion vector (MV) generator (222) generates a MV representing a displacement between the sample block and the BMCB.
(FR) Dans cet appareil (300) destiné à exécuter une estimation de déplacement, sur un bloc de NxM pixels dans une trame de courant basée sur une trame de référence déterminée, un diviseur (202) de bloc divise le bloc en sous-blocs de KxL pixels puis classe ces sous-blocs en groupe A de sous-blocs et en groupe B de sous-blocs, en fonction de la règle que tous les sous-blocs d'un même groupe sont diagonalement adjacents les uns aux autres. Un premier et un second circuit (204, 206) de décision décident quels pixels remplissent une première et une seconde condition déterminées, parmi les pixels du groupe A de sous-blocs, en tant que pixels représentatifs de ce groupe A, et parmi les pixels du groupe B de sous-blocs, en tant que pixels représentatifs de ce groupe B, la première condition étant différente de la seconde. Un générateur de blocs (208) échantillons combine les pixels représentatifs du groupe A avec ceux représentatifs du groupe B, afin de produire un bloc échantillon. Puis, le circuit de sous-échantillonnage (210) de trames de référence produit une trame de référence échantillon en sous-échantillonnant la trame déterminée, selon le même processus de sous-échantillonnage que celui décrit ci-dessus. Un détecteur (220) de meilleur bloc candidat correspondant, basé sur le bloc échantillon et sur la trame de référence échantillon, détecte parmi les blocs candidats, au moyen d'une technique de correspondance de blocs déterminée, un bloc candidat possédant la valeur d'erreur la plus petite par rapport au bloc échantillon, dans la trame de référence échantillon, en tant que meilleur bloc candidat correspondant, un générateur (222) de vecteurs de déplacement produisant un vecteur de déplacement représentant un déplacement entre le bloc échantillon et le meilleur bloc candidat correspondant.
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Designated States: CN, GB, JP
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)