WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1999006812) HIGH ACCURACY MEASURING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1999/006812    International Application No.:    PCT/US1998/016194
Publication Date: 11.02.1999 International Filing Date: 31.07.1998
Chapter 2 Demand Filed:    12.02.1999    
IPC:
G01D 3/06 (2006.01)
Applicants: DREXELBROOK CONTROLS, INC. [US/US]; 205 Keith Valley Road Horsham, PA 19044 (US)
Inventors: HAFER, Kevin, G.; (US).
KRAMER, Jonathan, L.; (US)
Agent: NORRIS, Norman, L.; Woodcock Washburn Kurtz Mackiewicz & Norris LLP 46th floor One Liberty Place Philadelphia, PA 19103 (US)
Priority Data:
60/054,582 01.08.1997 US
Title (EN) HIGH ACCURACY MEASURING SYSTEM
(FR) SYSTEME DE MESURE HAUTE PRECISION
Abstract: front page image
(EN)A measuring system for measuring a variable physical parameter by varying a reference signal above and below the magnitude of the physical parameter. The difference between the varying reference and the varying physical parameter is used to create an output signal representative of the magnitude of the parameter. A preferred embodiment of the invention uses a feedback-controlled system to vary the reference in such a manner as to cause the time integral of the difference to be minimized. The reference is varied at a controlled rate, and the direction in which the reference is being varied is reversed when a function of the difference reaches some predetermined level. A function of the limits between which the reference has recently been varied is representative of the magnitude of the physical parameter.
(FR)L'invention porte sur un système de mesure permettant de mesurer un paramètre physique variable en faisant varier un signal de référence en dessus ou en dessous de l'amplitude du paramètre physique. La différence entre la référence de variation et le paramètre physique variable est utilisée pour créer un signal de sortie représentatif de l'amplitude du paramètre. Selon une réalisation préférée de l'invention, on utilise un système à boucle de rétroaction pour faire varier la référence de manière à réduire l'entier temps de la différence. La référence varie à une vitesse connue et le sens dans lequel elle varie s'inverse dès qu'une fonction de la différence atteint un niveau prédéterminé. L'amplitude du paramètre physique est représentée par une fonction des limites entre lesquelles la référence vient de varier.
Designated States: CA, DE, GB, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)