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1. (WO1998053304) OPTICAL SUBSTRATE FOR ENHANCED DETECTABILITY OF FLUORESCENCE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1998/053304 International Application No.: PCT/US1998/001958
Publication Date: 26.11.1998 International Filing Date: 29.01.1998
Chapter 2 Demand Filed: 22.12.1998
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
64
Fluorescence; Phosphorescence
Applicants:
MOLECULAR DYNAMICS, INC. [US/US]; 928 East Arques Avenue Sunnyvale, CA 94086-4520, US
Inventors:
KAIN, Robert, C.; US
MARASON, Eric, G.; US
JOHNSTON, Richard, F.; US
Agent:
SCHNECK, Thomas; Law Offices of Thomas Schneck P.O. Box 2-E San Jose, CA 95109-0005, US
Priority Data:
08/864,36323.05.1997US
Title (EN) OPTICAL SUBSTRATE FOR ENHANCED DETECTABILITY OF FLUORESCENCE
(FR) SUBSTRAT OPTIQUE AUX FINS D'UNE MEILLEURE DETECTABILITE DE LA FLUORESCENCE
Abstract:
(EN) A sample substrate (51, Fig. 4A) for use in a fluorescence imaging system (Fig. 1) includes a rigid base with a specularly reflective surface, typically metal, on which is deposited a transparent coating layer (53). The coating layer has a thickness selected so that a particular fluorescence excitation wavelength, corresponding to a specified fluorescent constituent to be sought in sample material, has an optical path from the top of the coating layer to the reflecting surface in the base of substantially an odd multiple of one-quarter wavelength, so that the standing wave of the fluorescence excitation wavelength of light incident of the substrate has an antinode (61) located at or near where sample material would be disposed on top of the coating layer. This maximizes fluorescence excitation of the sample on the reflective substrate. The transparent coating layer may be a dielectric material (e.g. silica) or may be a multilayer structure with a top layer of biologically active material for binding a specified sample constituent.
(FR) Un substrat échantillon (51, Fig. 4A) à utiliser dans un système d'imagerie à fluorescence (Fig. 1) comporte une base rigide possédant une surface à réflexion spéculaire, généralement en métal, sur laquelle est déposée une couche d'un revêtement transparent (53). L'épaisseur de cette couche a été choisie de manière qu'une onde d'excitation d'une fluorescence particulière correspondant à un constituant d'une fluorescence spécifiée à rechercher dans un matériau échantillon ait un trajet optique depuis le sommet de la couche de revêtement jusqu'à la surface réfléchissante basé sur une valeur sensiblement égale à un multiple impair d'un quart de longueur d'onde, de sorte que l'onde stationnaire de l'onde d'excitation à fluorescence de la lumière incidente au substrat ait un ventre de vibration (61) situé là où le matériau échantillon devrait être placé au sommet de la couche de revêtement ou proche de cet endroit. Ceci porte au maximum l'excitation de fluorescence de l'échantillon sur le substrat réfléchissant. La couche de revêtement transparent peut consister en un matériau diélectrique (de la silice, par exemple) ou être constituée d'une structure multicouche avec une couche sommitale d'un matériau biologiquement actif pour fixer un constituant d'échantillon spécifié.
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Designated States: JP
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
EP1012578EP1319941JP2002508837