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1. (WO1998052484) STAND, ESPECIALLY FOR AN OPERATION MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/052484    International Application No.:    PCT/EP1998/002909
Publication Date: 26.11.1998 International Filing Date: 18.05.1998
IPC:
A61B 19/00 (2006.01), F16M 11/04 (2006.01), G02B 7/00 (2006.01)
Applicants: LEICA MIKROSKOPIE SYSTEME AG [CH/CH]; Heinrich-Wild-Strasse CH-9435 Heerbrugg (CH) (For All Designated States Except US).
SCHÜPBACH, Rolf [CH/CH]; (CH) (For US Only)
Inventors: SCHÜPBACH, Rolf; (CH)
Priority Data:
1162/97 20.05.1997 CH
Title (DE) STATIV, INSBESONDERE FÜR EIN OPERATIONSMIKROSKOP
(EN) STAND, ESPECIALLY FOR AN OPERATION MICROSCOPE
(FR) SUPPORT, NOTAMMENT POUR MICROSCOPE D'OPERATION
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft einen Schwenkträger für ein Operationsmikroskop an einem Stativ mit vertikalen und horizontalen Trägern und mit einer Aufhängung, an der zwei etwa gleichschenkelige zweiarmige Winkelhebel (1, 2) gehalten sind, von denen einer als Trägerhebel (1) den anderen als Arbeitshebel (2) etwa zentral und symmetrisch zu seiner Erstreckung lagert, so dass auftretende Schwenkmomente vom einen Arbeitshebelende zum anderen 1:1 übertragen werden. Unter Vermeidung von Parallelträgern wird so ein Operationsmikroskop stabil und spielfrei gehalten.
(EN)The invention relates to a swivel arm for an operation microscope. Said swivel arm is mounted on a stand with vertical and horizontal supports and a suspension. Two approximately equal, two-armed setting levers (1, 2) are supported on said suspension. One of said setting levers acts as a holding lever (1), positioning the other setting lever, which acts as a working lever (2), approximately centrally and symmetrically to its extension so that swivel moments are transferred from one end of the working lever to the other 1: 1. The invention provides a means of keeping an operation microscope stable and free of play without using parallel supports.
(FR)L'invention concerne un support pivotant pour microscope d'opération monté sur un support à éléments de soutien verticaux et horizontaux, et comportant une suspension au niveau de laquelle sont maintenus deux leviers coudés (1, 2) à deux bras approximativement de même dimension, dont un se présente sous forme de levier porteur (1) et soutient l'autre levier qui se présente quant à lui sous forme de levier de travail (2), approximativement de manière centrale et symétrique par rapport à son étendue, de manière que les moments de pivotement qui interviennent soient transmis d'une extrémité de levier de travail à l'autre dans un rapport de 1: 1. Un microscope d'opération peut ainsi être maintenu de manière stable et sans jeu, sans nécessiter l'utilisation d'éléments de soutien parallèles.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)