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1. (WO1998050941) DETECTOR SYSTEM FOR MASS SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1998/050941 International Application No.: PCT/AU1998/000319
Publication Date: 12.11.1998 International Filing Date: 05.05.1998
Chapter 2 Demand Filed: 18.11.1998
IPC:
H01J 49/02 (2006.01)
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
J
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49
Particle spectrometers or separator tubes
02
Details
Applicants:
VARIAN AUSTRALIA PTY. LTD. [AU/AU]; 679 Springvale Road Mulgrave, VIC 3170, AU (AllExceptUS)
GREGORY, Robert, Paul [GB/AU]; AU (UsOnly)
Inventors:
GREGORY, Robert, Paul; AU
Agent:
PHILIPS ORMONDE & FITZPATRICK; 367 Collins Street Melbourne, VIC 3000, AU
Priority Data:
PO 663407.05.1997AU
Title (EN) DETECTOR SYSTEM FOR MASS SPECTROMETER
(FR) SYSTEME DE DETECTEUR POUR UN SPECTROMETRE DE MASSE
Abstract:
(EN) The invention involves a mass spectrometer that includes a detector system having an electron multiplier detector. Feedback from the output of the detector is used to modify the input ion beam and thereby extend the dynamic measurement range of the spectrometer relative to that of the detector. The mass spectrometer includes means (8) for generating a beam of ions (9) for analysis in mass analyser (10) and then detection by an electron multiplier detector (15). Feedback circuit (17) including conditioning circuit (19) provides a signal to ion lens (11) for dynamically modifying the intensity of the ion beam incident on the detector (15) in dependence upon an output signal (21) from the detector whereby the intensity range of the incident ion beam is limited to within the dynamic range of the detector. Lens (11) deflects ions (14) from beam (13) which emerges from mass analyser (10) into the detector (15). Alternatively, an ion lens may deflect ions away from the detector. The ion beam may also be modified before it enters the mass analyser. The output signal (21) from the detector (15) is oppositely modified, for example by a computer (23), to compensate for the modification to the incident ion beam whereby a corrected output signal (27) representing the intensity of the unmodified ion beam is provided.
(FR) L'invention a pour objet un spectromètre de masse qui comprend un système de détecteur comportant un détecteur à multiplicateur d'électrons. La rétroaction provenant de la sortie du détecteur permet de modifier le faisceau ionique d'entrée et d'étendre ainsi la plage de mesure dynamique du spectromètre par rapport à celle du détecteur. Le spectromètre de masse comprend des moyens (8) pour générer un faisceau ionique (9) en vue de son analyse dans un analyseur de masse (10) et de sa détection par un détecteur (15) à multiplicateur d'électrons. Le circuit de rétroaction (17) comprenant un circuit de conditionnement (19) fournit un signal à une lentille ionique (11) pour modifier, de manière dynamique, l'intensité du faisceau ionique incident sur le détecteur (15) en fonction d'un signal de sortie (21) émis par le détecteur, la plage d'intensité du faisceau ionique incident étant ainsi limitée dans la plage dynamique du détecteur. La lentille (11) fait dévier les ions (14) provenant du faisceau (13) qui émerge de l'analyseur de masse (10) et passe dans le détecteur (15). Par ailleurs, une lentille ionique peut faire dévier les ions pour les éloigner du détecteur. Le faisceau ionique peut également être modifié avant de pénétrer dans l'analyseur de masse. Le signal de sortie (21) émis par le détecteur (15) est modifié de manière inverse, par exemple par un ordinateur (23) pour compenser la modification par rapport au faisceau ionique incident, ce qui permet d'obtenir un signal de sortie corrigé (27) représentant l'intensité du faisceau ionique non modifié.
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Designated States: AU, CA, JP, US
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
AU1998071990