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1. (WO1998049584) ABSORBENT THIN-FILM SYSTEM CONSISTING OF METAL AND DIELECTRIC FILMS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/1998/049584 International Application No.: PCT/DE1998/000819
Publication Date: 05.11.1998 International Filing Date: 20.03.1998
Chapter 2 Demand Filed: 16.11.1998
IPC:
G02B 5/22 (2006.01) ,G02B 21/06 (2006.01)
Applicants: EISENKRÄMER, Frank[DE/DE]; DE (UsOnly)
LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH[DE/DE]; Postfach 20 40 D-35530 Wetzlar, DE (AllExceptUS)
Inventors: EISENKRÄMER, Frank; DE
Priority Data:
197 18 146.530.04.1997DE
Title (EN) ABSORBENT THIN-FILM SYSTEM CONSISTING OF METAL AND DIELECTRIC FILMS
(FR) SYSTEME A COUCHES MINCES ABSORBANT, CONSTITUE DE COUCHES METALLIQUES ET DIELECTRIQUES
(DE) ABSORBIERENDES DÜNNSCHICHTSYSTEM, BESTEHEND AUS METALLISCHEN UND DIELEKTRISCHEN SCHICHTEN
Abstract: front page image
(EN) The invention relates to an absorbent thin-film system made up of alternate metal and dielectric films. With this system, colour-neutral absorption results in the visual spectral region are obtained, as are a defined phase shear and a defined transmission. This film system is used for contrasting-methods or contrasting-systems in microscopy.
(FR) L'invention concerne un système à couches minces absorbant, constitué de couches métalliques et diélectriques alternées. Cette structure permet d'obtenir, dans le spectre visible, un comportement d'absorption neutre vis-à-vis des couleurs, ainsi qu'un déphasage et une transmission définis. Ce système à couches minces est utilisé pour les procédés et les dispositifs d'obtention de contraste en microscopie.
(DE) Es wird ein absorbierendes Dünnschichtsystem vorgeschlagen, welches abwechselnd aus metallischen und dielektrischen Schichten aufgebaut ist. Mit dieser Anordnung wird im visuellen Spektralbereich ein farbneutrales Absorptionsverhalten und ein definierter Phasenschub sowie eine definierte Transmission realisiert. Verwendung findet dieses Schichtsystem für Kontrastier-Verfahren bzw. -Anordnungen in der Mikroskopie.
Designated States: JP, US
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)