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1. (WO1998049546) ULTRAHIGH RESOLUTION INTERFEROMETRIC X-RAY IMAGING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/049546    International Application No.:    PCT/US1998/004972
Publication Date: 05.11.1998 International Filing Date: 12.03.1998
Chapter 2 Demand Filed:    20.08.1998    
IPC:
A61B 6/00 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01)
Applicants: CLAUSER, John, Francis [US/US]; (US)
Inventors: CLAUSER, John, Francis; (US)
Priority Data:
08/846,742 30.04.1997 US
Title (EN) ULTRAHIGH RESOLUTION INTERFEROMETRIC X-RAY IMAGING
(FR) IMAGERIE INTERFEROMETRIQUE AUX RAYONS X A TRES HAUTE RESOLUTION
Abstract: front page image
(EN)Objects having negligible x-ray absorption contrast, such as soft-tissue and micro-calcifications, are imaged by obtaining edge-enhanced contrast from the object's (BDY) x-ray refractive-index gradients. The process can be 'tuned' to obtain element-selective (z$m(K) 35-56) contrast enhancement. Two independent images, both absorption and refractive-index, can be produced with one brief x-ray exposure. Blurring, small-angle scatter, and quantum mottle are greatly reduced without a Bucky grid. CT scan time is reduced. The fractional Talbot effect is used, with two pre-object microfabricated gratings (G1, G2) and a detector array (D) aligned by an $i(in situ) laser interferometer.
(FR)On prend l'image d'objets, dont le contraste d'absorption de rayons X est négligeable, tels que des tissus mous et des micro-calcifications, au moyen de l'obtention du contraste d'effet de bord à partir des gradients d'indice de réfraction des rayons X de l'objet (BDY). On peut moduler ce procédé afin d'obtenir une augmentation du contraste avec une sélectivité d'élément (z$m(K)35-36). On peut produire deux images indépendantes, à la fois par absorption et par indice de réfraction, avec une exposition brève aux rayons X. On limite considérablement le flou, la diffusion de petit angle et la fluctuation quantique sans grille de Bucky. On limite la durée de balayage CT. On utilise l'effet fractionnaire de Talbot avec deux réseaux micro-usinés placés avant l'objet et un ensemble de détecteurs (D) alignés par un interféromètre laser $i(in situ).
Designated States: AU, CA, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)