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1. (WO1998033203) GATE FOR ELIMINATING CHARGED PARTICLES IN TIME OF FLIGHT SPECTROMETERS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/1998/033203 International Application No.: PCT/AU1998/000041
Publication Date: 30.07.1998 International Filing Date: 28.01.1998
Chapter 2 Demand Filed: 11.08.1998
IPC:
H01J 49/40 (2006.01)
Applicants: DAVIS, Stephen[GB/GB]; GB (UsOnly)
BANDURA, Dmytro[AU/AU]; AU (UsOnly)
GBC SCIENTIFIC EQUIPMENT PTY. LTD.[AU/AU]; 12 Monterey Road Dandenong, VIC 3175, AU (AllExceptUS)
Inventors: DAVIS, Stephen; GB
BANDURA, Dmytro; AU
Agent: WILSON, Stephen, Henry; Griffith Hack 509 St. Kilda Road Melbourne, VIC 3004, AU
Priority Data:
PO 481028.01.1997AU
Title (EN) GATE FOR ELIMINATING CHARGED PARTICLES IN TIME OF FLIGHT SPECTROMETERS
(FR) PORTE SERVANT A ELIMINER DES PARTICULES CHARGEES DANS DES SPECTROMETRES DE TEMPS DE VOL
Abstract: front page image
(EN) An analysis device such as a time of flight mass spectrometer is disclosed which includes an ICP torch (6) for producing a plasma of bath gas and sample material which is to be analysed. Beam forming optics (13) are provided in order to create a beam of ions of bath gas and ions for delivery to an orthogonal accelerator (17) which pushes out ion packets from the beam. An ion mirror (21) flex the beam towards a detector (24). Arranged between the orthogonal accelerator (17) and the ion mirror (21) is a gate (19) which is formed from a plurality of elements A, B, C, D which are arranged parallel to the direction of beam travel from the orthogonal accelerator to the ion mirror (21). The power supply (28) supplies voltages to the gate (19) so that the elements A, B, C, D create deflection fields for deflecting charged particles sideways so they are not received via the detector (24). The power supply (28) momentarily changes the state of the elements A, B, C, D from time to time so as to selectively remove various charged particles from the beam which will be detected by the detector (24).
(FR) Dispositif d'analyse, tel qu'un spectromètre de temps de vol de masse, comprenant un torche ICP servant à produire un plasma de gaz de bain et de matériau échantillon à analyser. Des instruments optiques (13) de production de faisceau servent à créer un faisceau d'ions de gaz de bain et d'ions devant alimenter un accélérateur orthogonal (17) qui pousse les paquets d'ions vers l'extérieur depuis le faisceau. Un miroir d'ions (21) infléchit le faisceau vers un détecteur (24). Une porte (19) est située entre l'accélérateur orthogonal (17) et le miroir d'ions (21) et est composée d'une pluralité d'éléments A, B, C, D, disposés parallèlement au sens du déplacement du faisceau depuis l'accélérateur orthogonal vers le miroir d'ions (21). L'alimentation en énergie (28) alimente la porte (19) en tensions, de sorte que les éléments A, B, C, D créent des champs de déflexion servant à défléchir latéralement les particules chargées afin qu'elles ne soient pas reçues par le détecteur (24). L'alimentation en énergie (28) modifie momentanément l'état des éléments A, B, C, D de temps à autre, de manière à supprimer sélectivement différentes particules chargées depuis le faisceau qui ne seront pas détectées par le détecteur (24).
Designated States: AU, CA, CN, JP, US
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)