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1. (WO1998029898) SCALABLE TESTER ARCHITECTURE WITH I-CACHED SIMD TECHNOLOGY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/029898    International Application No.:    PCT/US1997/023073
Publication Date: 09.07.1998 International Filing Date: 12.12.1997
Chapter 2 Demand Filed:    16.07.1998    
IPC:
G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: SIMD SOLUTIONS, INC. [US/US]; 1075 Almaden Village Lane, San Jose, CA 95120 (US) (For All Designated States Except US).
ROCKOFF, Todd, E. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ROCKOFF, Todd, E.; (US)
Agent: KESSLER, Edward, J.; Sterne, Kessler, Goldstein & Fox P.L.L.C., Suite 600, 1100 New York Avenue, N.W., Washington, DC 20005-3934 (US)
Priority Data:
60/033,571 19.12.1996 US
08/824,186 26.03.1997 US
Title (EN) SCALABLE TESTER ARCHITECTURE WITH I-CACHED SIMD TECHNOLOGY
(FR) TESTEUR A ARCHITECTURE EVOLUTIVE A ANTEMEMOIRE D'INSTRUCTIONS SIMD
Abstract: front page image
(EN)A high-speed semiconductor tester system with Single Instruction-stream Multiple Data-Stream (SIMD) organization, incorporating an event generator array (150), a plurality of pin channels (180) for connecting to a device under test (DUT), a reconfigurable allocator switch (152) for assignement of event generators to individual DUT pin channel connections (182), multi-clocking, and SIMD instruction cache (310). The result is a tester digital system exhibiting a maximum ratio of performance to hardware cost.
(FR)L'invention porte sur un testeur à semi-conducteur à grande vitesse à organisation SIMD (instruction unique/données multiples) comportant un réseau générateur d'événements, plusieurs canaux de broches pour raccorder le dispositif à tester, un commutateur répartiteur reconfigurable pour diriger le générateur d'événements vers les connexions des canaux de broches du dispositif à tester, une multi-synchronisation, et une antémémoire d'instructions SIMD. Il en résulte un testeur numérique présentant un rapport maximum entre les performances et le prix du matériel.
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, GH, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US.
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)