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1. (WO1998017171) APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING A SYSTEM AND DISPLAYING THE STATUS OF THE SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/017171    International Application No.:    PCT/US1997/019058
Publication Date: 30.04.1998 International Filing Date: 20.10.1997
Chapter 2 Demand Filed:    05.05.1998    
IPC:
A61B 5/0205 (2006.01)
Applicants: ALBERT EINSTEIN HEALTHCARE NETWORK [US/US]; 5501 Old York Road, Philadelphia, PA 19141 (US)
Inventors: NEVO, Igal; (US).
SALAH, Maher; (US).
DAGALUR, Srinivas, S.; (US).
NEWMAN, Mark; (US)
Agent: BRUSTEIN, Mitchell, R.; Dann, Dorfman, Herrell and Skillman, Suite 720, 1601 Market Street, Philadelphia, PA 19103 (US)
Priority Data:
08/734,332 21.10.1996 US
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING A SYSTEM AND DISPLAYING THE STATUS OF THE SYSTEM
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DESTINES A LA SURVEILLANCE D'UN SYSTEME ET A L'AFFICHAGE DE L'ETAT D'UN SYSTEME
Abstract: front page image
(EN)This invention is an apparatus and method for monitoring a system or patient to provide information regarding the status of the system. The apparatus comprises a means of transforming measured values (16) of more than one parameter of the system using a function dependent on at least baseline, and critical values of the parameters. The apparatus further includes mapping means (55, 57) for mapping the function to a sequence of reference values and generating a deviation indicator (59) for each parameter. The deviation indicators are analyzed by an analyzer to generate information concerning the status of the system or patient.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé destinés à la surveillance d'un système ou d'un patient, en vue de fournir des informations relatives à l'état de ce système. Cet appareil comprend un moyen de transformation de valeurs (16) mesurées de plus d'un paramètre du système, au moyen d'une fonction dépendant d'une ligne de base au moins, et de valeurs critiques des paramètres. Cet appareil comprend en outre un moyen de mappage (55, 57), destiné à mettre en correspondance la fonction avec une séquence de valeurs de référence, et à produire un indicateur d'écarts (59) pour chaque paramètre. Les indicateurs d'écarts sont analysés par un analyseur en vue de produire des informations concernant l'état du système ou du patient.
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, GH, HU, ID, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, YU, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, KE, LS, MW, SD, SZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)