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1. (WO1998003879) PROCESS FOR TESTING A PRODUCT AND EQUIPMENT FOR CARRYING OUT THE PROCESS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/003879    International Application No.:    PCT/EP1997/003911
Publication Date: 29.01.1998 International Filing Date: 21.07.1997
Chapter 2 Demand Filed:    27.01.1998    
IPC:
G01R 31/01 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01), G01R 31/316 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
HEWLETT-PACKARD GMBH [DE/DE]; Herrenberger Strasse 110-130, D-71034 Böblingen (DE) (For All Designated States Except US).
BREU, Johann [DE/DE]; (DE) (For US Only).
PIRKL, Ludwig [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WAGNER, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WOJTALLA, Peter [DE/DE]; (DE) (For US Only).
STEGERER, Franz [DE/DE]; (DE) (For US Only).
VOGGENREITER, Otto [DE/DE]; (DE) (For US Only).
MASSEUS, Leon [NL/DE]; (DE) (For US Only).
YAP, Mee-Moi [MY/MY]; (MY) (For US Only).
JURI, Walter [AT/DE]; (DE) (For US Only).
LANE, Fred [US/US]; (US) (For US Only).
TSUN, Stephen [US/US]; (US) (For US Only).
KINOSHITA, Gary [US/US]; (US) (For US Only).
SCHRÖDER, Rainer [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KORNMAYER, Werner [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: BREU, Johann; (DE).
PIRKL, Ludwig; (DE).
WAGNER, Thomas; (DE).
WOJTALLA, Peter; (DE).
STEGERER, Franz; (DE).
VOGGENREITER, Otto; (DE).
MASSEUS, Leon; (DE).
YAP, Mee-Moi; (MY).
JURI, Walter; (DE).
LANE, Fred; (US).
TSUN, Stephen; (US).
KINOSHITA, Gary; (US).
SCHRÖDER, Rainer; (DE).
KORNMAYER, Werner; (DE)
Agent: FUCHS, Franz-Josef; Postfach 22 13 17, D-80503 München (DE).
EPPING, Wilhelm; Postfach 22 13 17, D-80503 München (DE)
Priority Data:
196 29 915.2 24.07.1996 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUM TESTEN EINES PRODUKTES UND VORRICHTUNG ZUM DURCHFÜHREN DES VERFAHRENS
(EN) PROCESS FOR TESTING A PRODUCT AND EQUIPMENT FOR CARRYING OUT THE PROCESS
(FR) PROCEDE POUR TESTER UN PRODUIT ET DISPOSITIF POUR LA MISE EN OEUVRE DE CE PROCEDE
Abstract: front page image
(DE)Das erfindungsgemäße Verfahren zum Testen von Produkten, insbesondere nach Fertigstellung durch eine Fertigungslinie, weist die folgenden Schritte auf: a) Testen eines ersten Parameters eines ersten Produktes mittels einer ersten Prüfvorrichtung unter Verwendung eines ersten Eingangssignals, bei dem ein erstes Prüfergebnis erzeugt wird, b) Testen des ersten Parameters des ersten Produktes mittels einer zweiten Prüfvorrichtung unter Verwendung eines zum ersten Eingangssignal unabhängigen zweiten Eingangssignals, bei dem ein zum ersten Prüfergebnis unabhängiges zweites Prüfergebnis erzeugt wird, c) Ermitteln eines Differenzwertes der durch die Prüfvorrichtungen ermittelten Prüfergebnisse, d) Bestimmung der Güte der Prüfvorrichtungen aus dem Differenzwert, e) Ausgeben einer Fehlermeldung bei Abweichung der Güte der Prüfvorrichtungen von einem vorgegebenen Wert, f) Wiederholen der Schritte a) bis e) für mindestens einen weiteren Parameter.
(EN)The claimed process for testing products, especially upon completion of assembly line production, has the following steps: (a) test a first parameter of a first product with a first testing device using a first input signal to produce a first test result; (b) test the first parameter of the first product with a second testing device using a second input signal that is independent of the first input signal to produce a second test result; (c) derive a differential value from the test results obtained by the testing devices; (d) determine the quality of conformance of the testing devices from the differential value; (e) output an error message when the quality of the testing devices deviates from a predetermined value; (f) repeat steps (a) to (e) for at least one other parameter.
(FR)Le procédé décrit pour tester des produits, notamment en sortie d'une chaîne de fabrication, comporte les étapes consistant à: (a) tester un premier paramètre d'un premier produit avec un premier dispositif d'essai à l'aide d'un premier signal d'entrée pour obtenir un premier résultat d'essai; (b) tester le premier paramètre du premier produit avec un deuxième dispositif d'essai au moyen d'un deuxième signal d'entrée, indépendant du premier signal d'entrée, pour obtenir un deuxième résultat d'essai; (c) calculer une valeur différentielle des résultats d'essai déterminés par les dispositifs d'essai; (d) déterminer la qualité des dispositifs d'essai à partir de cette valeur différentielle; (e) émettre un message d'erreur lorsque la qualité des dispositifs d'essai s'écarte d'une valeur prédéterminée; (f) répéter les étapes (a) à (e) pour au moins un autre paramètre.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)