WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1998000744) DARK FIELD, PHOTON TUNNELING IMAGING SYSTEMS AND METHODS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/000744    International Application No.:    PCT/US1997/011418
Publication Date: 08.01.1998 International Filing Date: 30.06.1997
IPC:
G01B 11/30 (2006.01), B62D 57/00 (2006.01), B81B 7/04 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01), G01Q 60/18 (2010.01), G11B 33/10 (2006.01), G11B 5/60 (2006.01), G11B 9/00 (2006.01)
Applicants: POLAROID CORPORATION [US/US]; 549 Technology Square, Cambridge, MA 02139-3589 (US)
Inventors: GUERRA, John, M.; (US)
Agent: STECEWYCZ, Joseph; Polaroid Corporation, 549 Technology Square, Cambridge, MA 02139-3589 (US)
Priority Data:
08/673,254 28.06.1996 US
Title (EN) DARK FIELD, PHOTON TUNNELING IMAGING SYSTEMS AND METHODS
(FR) FOND SOMBRE, ET SYSTEMES ET PROCEDES D'IMAGERIE A TUNNEL PHOTONIQUE
Abstract: front page image
(EN)A dark-field imaging system and method is disclosed that employs photon tunneling to visualize and measure submicron features of reflecting or transmissive materials within the subnanometer-to-several-micron range. The system comprises an illumination section for providing an evanescent field, where the evanescent field is selectively scattered by the surface of the reflecting or transmissive material, and a collection section for transmitting the radiant energy produced by the evanescent field scattering to an imaging section, which may may be a vidicon, digital camera, or other photo detector device. Various embodiments are disclosed including the use of a bulk optic prismatic element, the forward aplantic element of a compound microscope objective, diffracting gratings, and optical waveguides. In each embodiment the collection section and illumination section may be completely optically, and thus physically, uncoupled.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé d'imagerie à fond sombre, qui emploie un tunnel photonique pour visualiser et mesurer les caractéristiques submicroniques de matériaux réfléchissants ou transparents, dans une plage allant d'un niveau inférieur au nanomètre jusqu'à plusieurs microns. Le système comprend une section d'éclairage, qui crée un champ évanescent lequel est sélectivement diffusé par la surface du matériau réfléchissant ou transparent, et une section de captation qui transmet l'énergie rayonnante produite par le champ évanescent diffusant à une section d'imagerie, qui peut être un vidicon, une caméra numérique ou un autre dispositif détecteur de photons. L'invention décrit plusieurs modes de réalisation, utilisant entre autres un élément prismatique optique de masse, l'élément aplanétique direct de l'objectif d'un microscope composé, des réseaux de diffraction et des guides d'ondes optiques. Dans chaque mode de réalisation, la section de captation et la section d'éclairage peuvent être entièrement optiques, et donc non couplées physiquement.
Designated States: CA, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)