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1. (WO1998000725) METHODOLOGY FOR TESTING A MICROCONTROLLER CHIP ADAPTED TO CONTROL A LIQUID CRYSTAL DISPLAY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1998/000725    International Application No.:    PCT/US1997/010809
Publication Date: 08.01.1998 International Filing Date: 27.06.1997
IPC:
G06F 11/267 (2006.01), G09G 3/00 (2006.01)
Applicants: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED [US/US]; 2355 West Chandler Boulevard, Chandler, AZ 85224-6199 (US)
Inventors: YACH, Randy; (US).
DRAKE, Rodney; (US)
Agent: GREENE, Donald, R.; Wigman, Cohen, Leitner & Myers, P.C., Suite 1000, 900-17th Street N.W., Washington, DC 20006 (US)
Priority Data:
08/671,011 28.06.1996 US
Title (EN) METHODOLOGY FOR TESTING A MICROCONTROLLER CHIP ADAPTED TO CONTROL A LIQUID CRYSTAL DISPLAY
(FR) METHODOLOGIE D'ESSAI DE PUCES DE MICROCONTROLEURS SERVANT A LA COMMANDE D'UN AFFICHAGE A CRISTAUX LIQUIDES
Abstract: front page image
(EN)A method is disclosed for testing a high speed microcontroller fabricated on a semiconductor chip (figure 4), and for testing relatively low speed functions of a liquid crystal display (LCD) module (figure 2) on the chip that drives an off-chip LCD for an external system to be controlled by the microcontroller with a plurality of discrete analog voltage levels for performing the LCD functions. Digital values of the discrete analog voltage levels are multiplexed in time slots of a test waveform to simulate in high speed digital format in a test mode the low speed timing, relative magnitude and functionality of the analog voltage levels used to drive the LCD. A high speed driver is selectively coupled to a pin of the chip, to which the discrete analog voltage levels are normally applied at low speed to drive the LCD, and the test waveform is applied to the high speed driver. The digital value and timing that appear on the pin are then monitored as an indication of proper functionality of the LCD module. The high speed driver is switched out and the normal low speed LCD driver is switched back for return to an LCD user mode when the test mode is completed. Monitoring the pin with a digital tester allows verification that pulses at the pin in predetermined time slots indicate the corresponding analog voltage level is being applied at the proper time during normal operation of the LCD module, and digitally testing of continuity in an analog channel. A transistor normally employed on the chip for electrostatic discharge protection is activated to selectively couple the high speed driver to the pin for the high speed testing mode.
(FR)L'invention porte sur procédé d'essai d'un microcontrôleur à grande vitesse intégré à une puce de semi-conducteur, et d'essai de fonctions à vitesse relativement faible d'un module d'affichage à cristaux liquides intégré à la puce et pilotant un affichage à cristaux liquides d'un système extérieur commandé par le microcontrôleur à l'aide de niveaux de tensions analogiques discrets assurant le fonctionnement de l'affichage à cristaux liquides. Les valeurs numériques des niveaux des tensions analogiques discrets sont multiplexés à l'intérieur de créneaux de temps d'une forme d'onde d'essai pour simuler en format numérique à grande vitesse en mode test le cadencement à basse bitesse, la magnitude et la fonction relatives des niveaux de tension analogiques servant au pilotage de l'affichage à cristaux liquides. Un circuit d'attaque à haute vitesse est raccordé sélectivement à une borne de la puce à laquelle les niveaux des tensions analogiques discrets sont normalement appliqués à basse vitesse pour piloter l'affichage à cristaux liquides, tandis que la forme d'onde d'essai est appliquée au circuit d'attaque à vitesse élevée. Les valeurs numériques et le cadencement transmis à la borne, et qui constituent une indication du bon fonctionnement du module d'affichage à cristaux liquides, sont alors contrôlés. Le circuit d'attaque à haute vitesse est mis hors circuit tandis que le circuit d'attaque normal d'affichage à cristaux liquides à basse vitesse est reconnecté de manière à revenir en mode utilisateur après achèvement du mode test. Le contrôle de la broche à l'aide d'un testeur numérique permet de vérifier que les impulsions apparaissent sur la borne pendant des créneaux de temps prédéterminés, ce qui indique que la tension analogique correspondante est appliquée au bon moment pendant le fonctionnement normal du module d'affichage à cristaux liquides et que le test numérique se poursuit dans un canal analogique. Un transistor servant normalement à protéger la puce contre les décharges électrostatiques est activé pour assurer le raccordement sélectif du circuit d'attaque à grande vitesse à la broche et le passage en mode test à haute vitesse.
Designated States: JP, KR.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)