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1. (WO1997040393) DEVICE FOR INSERTING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR COMPONENT INTO A RECEPTACLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/040393    International Application No.:    PCT/EP1997/001948
Publication Date: 30.10.1997 International Filing Date: 18.04.1997
Chapter 2 Demand Filed:    25.10.1997    
IPC:
G01R 31/01 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: MCI COMPUTER GMBH [DE/DE]; Papiermühle 1, D-51766 Engelskirchen (DE) (For All Designated States Except US).
MÖWES, Harro [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KREMER, Hans-Joachim [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: MÖWES, Harro; (DE).
KREMER, Hans-Joachim; (DE)
Agent: HILLERINGMANN, Jochen; Deichmannhaus, Bahnhofsvorplatz 1, D-50667 Köln (DE)
Priority Data:
196 15 674.2 19.04.1996 DE
Title (DE) VORRICHTUNG ZUM EINFÜHREN MINDESTENS EINES HALBLEITER-BAUELEMENTS IN EINE AUFNAHME
(EN) DEVICE FOR INSERTING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR COMPONENT INTO A RECEPTACLE
(FR) DISPOSITIF POUR INTRODUIRE AU MOINS UN COMPOSANT A SEMICONDUCTEUR DANS UN LOGEMENT
Abstract: front page image
(DE)Die Vorrichtung zum Einführen mindestens eines Halbleiter-Bauelements in eine Aufnahme, insbesondere in einen Testsockel zum Testen der elektrischen Funktion des Halbleiter-Bauelements, ist mit mindestens einem Aufnahmeraum (46) für das Halbleiter-Bauelement (12) versehen, wobei der Aufnahmeraum (46) eine Aufnahmeöffnung (56) aufweist. Ferner weist die Vorrichtung mindestens ein Bewegungselement (34) zum Bewegen des Halbleiter-Bauelements (12) in einer Bewegungsrichtung (58) durch die Aufnahmeöffnung (56) hindurch in den Aufnahmeraum (46) auf. Das Bewegungselement (34) weist eine Gaskissen-Erzeugungsvorrichtung (62) auf, die ein das Halbleiter-Bauelement (12) bis zumindest in die Aufnahmeöffnung (56) hineinbewegendes Gaskissen (60) erzeugt.
(EN)The invention relates to a device for inserting at least one semiconductor component into a receptacle, in particular into a base for testing the electrical performance of a semiconductor component. Said device is provided with at least one receiving chamber (46) for the semiconductor component (12), the receiving chamber (46) having a receiving opening (56). The device also has at least one member (34) for moving the semiconductor component (12) in a direction of movement (58) through the receiving opening (56) into the receiving chamber (46). The movement member (34) has a gas cushion generating device (62) which produces a gas cushion (60) moving the semiconductor component (12) at least into the receiving opening (56).
(FR)L'invention concerne un dispositif pour introduire au moins un composant à semiconducteur dans un logement, notamment dans un socle pour tester le fonctionnement électrique du composant à semiconducteur. Ce dispositif est pourvu d'au moins un espace de logement (46) pour le composant à semiconducteur (12), présentant une ouverture (56). Ce dispositif présente en outre au moins un élément (34) pour déplacer le composant à semiconducteur (12) dans un sens de déplacement (58) à travers l'ouverture (56) dans l'espace de logement (46). L'élément de mouvement (34) présente un dispositif (62) qui génère un coussin de gaz (60) déplaçant le composant à semiconducteur (12) au moins jusqu'à l'intérieur de l'ouverture (56).
Designated States: DE, JP, KR, SG, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)