WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1997040369) METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING LOCALIZED THERMAL ANALYSIS AND SUB-SURFACE IMAGING BY SCANNING THERMAL MICROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/040369    International Application No.:    PCT/IB1997/000528
Publication Date: 30.10.1997 International Filing Date: 22.04.1997
IPC:
G01N 25/48 (2006.01)
Applicants: TA INSTRUMENTS, INC. [US/US]; 109 Lukens Drive, New Castle, DE 19720 (US)
Inventors: HAMMICHE, Azzedine; (GB).
READING, Michael; (GB).
SONG, Mo; (GB).
POLLOCK, Hubert, Murray, Montagu; (GB)
Agent: BARNARD, Eric, Edward; Brookes & Martin, High Holborn House, 52/54 High Holborn, London WC1V 6SE (GB)
Priority Data:
60/015,894 22.04.1996 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING LOCALIZED THERMAL ANALYSIS AND SUB-SURFACE IMAGING BY SCANNING THERMAL MICROSCOPY
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR EFFECTUER UNE ANALYSE THERMIQUE LOCALISEE ET DES OPERATIONS D'IMAGERIE SUBSUPERFICIELLE PAR MICROSCOPIE THERMIQUE A BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)A platinum/rhodium resistance thermal probe is used as an active device which acts both as a highly localized heat source and as a detector to perform localized differential calorimetry, by thermally inducing and detecting events such as glass transitions, meltings, recystallizations and thermal decomposition within volumes of material estimated at a few $g(m)m?3¿. Furthermore, the probe is used to image variations in thermal conductivity and diffusivity, to perform depth profiling and sub-surface imaging. The maximum depth of the sample that is imaged is controlled by generating and detecting evanescent temperature waves in the sample.
(FR)Dans cette invention, on utilise une sonde thermique à résistance au platine/rhodium comme dispositif actif qui sert à la fois de source de chaleur fortement localisée et de détecteur, pour effectuer des mesures de calorimétrie différentielle localisée, en induisant thermiquement et en détectant des évènements tels que des transitions vitreuses, des fusions, des recristallisations et des décompositions thermiques dans des matériaux ayant des volumes estimés à quelques $g(m)m?3¿. Cette sonde est en outre utilisée pour représenter en images des variations de la conductivité thermique et de la diffusivité thermique, pour procéder à des déterminations de profils de profondeur et à des opérations d'imagerie subsuperficielle. La profondeur maximum de l'échantillon faisant l'objet de l'opération d'imagerie est régulée par production et détection d'ondes de températures évanescentes dans ledit échantillon.
Designated States: CA, JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)