WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO1997040343) PARAMETER END POINT MEASURING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/040343    International Application No.:    PCT/US1997/006834
Publication Date: 30.10.1997 International Filing Date: 22.04.1997
Chapter 2 Demand Filed:    24.11.1997    
IPC:
G01D 3/02 (2006.01), G01D 9/00 (2006.01), G01D 18/00 (2006.01)
Applicants: WU, Frederick [US/US]; (US).
FOREMAN, Richard [US/US]; (US)
Inventors: WU, Frederick; (US).
FOREMAN, Richard; (US)
Agent: BIELEN, Theodore, J.; Bielen, Peterson & Lampe, Suite 720, 1990 N. California Boulevard, Walnut Creek, CA 94596 (US)
Priority Data:
08/636,654 23.04.1996 US
Title (EN) PARAMETER END POINT MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LA LIMITE D'UN PARAMETRE
Abstract: front page image
(EN)A monitor device (10) for determining end point measurements of an environmental parameter such as temperature, humidity and the like. The monitor (10) employs a probe (12) which consecutively measures consecutive values of such environmental parameter. Transducing means (44) converts the measured values into an electrical signal. Clock means (38) determines a time window which is stored in memory means (34). Memory means (34) obtains a value of the span of the parameter value by determining the difference between an initial value and a selected subsequent value of the parameter. End point selection means (36) compares the selected minimum ratio with the actual ratio within the time window set by the clock means (38). When the actual ratio lies within the preset minimum ratio, display means (26) exhibits indicia representing the actual environmental parameter.
(FR)Appareil de mesure (10) permettant de déterminer des mesures de limite d'un paramètre du milieu, tel que température, humidité, etc. L'appareil de mesure (10) emploie une sonde (12) qui mesure successivement les valeurs successives dudit paramètre. Un système transducteur (44) convertit les valeurs mesurées en signal électrique. Un système d'horloge (38) détermine une fenêtre temporelle qui est mise en mémoire dans un système mémoire (34). Un système mémoire (34) obtient une valeur de l'étendue de la valeur de mesure du paramètre en déterminant, pour ce dernier, la différence entre une valeur initiale et une valeur suivante sélectionnée. Un système de sélection de limite (36) compare le rapport minimum sélectionné au rapport réel à l'intérieur de la fenêtre temporelle déterminée par le système d'horloge (38). Quand le rapport réel se situe à l'intérieur du rapport minimum préétabli, un système d'affichage (26) affiche des repères représentant le paramètre réel du milieu.
Designated States: AU, CA, JP, SG.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)