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1. (WO1997039339) SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/1997/039339 International Application No.: PCT/US1997/005899
Publication Date: 23.10.1997 International Filing Date: 11.04.1997
Chapter 2 Demand Filed: 31.10.1997
IPC:
G01N 21/88 (2006.01) ,G01N 21/956 (2006.01) ,G06T 7/00 (2006.01)
Applicants: AUTOSPECT, INC.[US/US]; 4750 Venture Drive Ann Arbor, MI 48108, US
Inventors: HAVEN, G., Neil; US
CZUBKO, Myron; US
Agent: RILEY, Judith, M. ; Gifford, Krass, Groh, Sprinkle, Patmore, Anderson & Citkowski, P.C. Suite 400 280 N. Woodward Birmingham, MI 48009, US
Priority Data:
08/673,92601.07.1996US
08/833,92610.04.1997US
60/015,40612.04.1996US
Title (EN) SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTEME ET PROCEDE DE CONTROLE DES DEFAUTS D'UNE SURFACE
Abstract:
(EN) A system and method for detecting defects on a painted workpiece surface (B). The system includes an elongated line of light (112) having a pair of sharp transition zones. The line of light falls onto a moving substrate (S) containing a plurality of workpieces (B) to be inspected. A scanning detector (118) receives light scattered by the workpiece (B) surface. A first scan is performed proximate one edge of the line of light (112) and a second scan proximate the other. A defect on the workpiece (B) produces characteristic shadow or backscatter patterns which vary between the first and second scans. The shadow and backscatter patterns cause variations in the amplitude of the light detected by the scanning detector (118). The scanned information is then digitally and electronically processed by software which recognizes each defect, and characterizes the defect by type and/or size.
(FR) La présente invention concerne un système et un procédé de détection des défauts sur la surface d'une pièce peinte (B). Le système produit un trait lumineux (112) présentant deux zones de transition en angle aigu. Le trait lumineux tombe sur un substrat (S) en mouvement contenant une pluralité de pièces (B) à contrôler. Un détecteur optique (118) reçoit la lumière diffusée par la surface de la pièce (B). Le procédé consiste à effectuer un premier un examen optique au voisinage d'un bord du trait lumineux (112) et un second un examen optique au voisinage de l'autre bord. Un défaut sur la pièce (B) se caractérise par une ombre ou par des structures de rétrodiffusion qui varient entre le premier et le second un examen optique. L'ombre et les structures de rétrodiffusion provoquent des variations de l'amplitude de la lumière détectée par le détecteur optique (118). Les informations recueillies par l'examen optique sont ensuite traitées numériquement et électroniquement par un logiciel qui reconnaît chaque défaut et classe le défaut selon son type et/ou sa taille.
Designated States: CA, DE, ES, GB, JP, MX
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)