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1. (WO1997022886) GENERIC INTERFACE TEST ADAPTER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/022886    International Application No.:    PCT/US1996/014949
Publication Date: 26.06.1997 International Filing Date: 18.09.1996
Chapter 2 Demand Filed:    15.07.1997    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: LEAR ASTRONICS CORPORATION [US/US]; 3400 Airport Avenue, Santa Monica, CA 90406 (US)
Inventors: OSTER, Melvin, G.; (US).
FUCHS, Brian; (US).
REID, Kenneth; (US)
Agent: WANG, Anne; Pretty Schroeder Brueggemann & Clark, Suite 2000, 444 South Flower Street, Los Angeles, CA 90071 (US).
RITTHALER, Wolfgang; Alois-Steinecker-Str. 22, DE-85354 Freising (DE)
Priority Data:
573,026 15.12.1995 US
Title (EN) GENERIC INTERFACE TEST ADAPTER
(FR) ADAPTATEUR D'ESSAI D'INTERFACE GENERIQUE
Abstract: front page image
(EN)A generic interface test adapter for connecting between a test station and a unit under test. The generic interface test adapter includes an interface frame and an interchangeable circuit card assembly that are configured to route the signals between test station and the unit under test. The interface frame includes an interface plane having a plurality of contact pins or spring-loaded probes, and the circuit card assembly has a plurality of contact pads, aligned to mate with the contact pins. The electrical connections between the test station and the unit under test can be reconfigured merely by changing the interchangeable circuit card assembly. A pressure frame is provided to securely hold the circuit card assembly against the interface plane to provide electrical connection. The pressure frame is pulled toward the interface frame by a cam and angled cam slot mechanism operated by a lever arm.
(FR)L'invention concerne un adaptateur d'essai d'interface générique pour connecter un poste d'essai et une unité testée. L'adaptateur d'essai d'interface générique comprend un châssis d'interface et une carte à circuits interchangeables qui sont configurés pour acheminer les signaux entre le poste d'essai et l'unité testée. Le châssis d'interface comprend un plan d'interface possédant plusieurs broches de contact ou sondes chargées par ressort. La carte à circuits comprend plusieurs plots de contact, alignés pour correspondre aux broches de contact. Les connexions électriques entre le poste d'essai et l'unité testée peuvent être reconfigurées uniquement en changeant la carte à circuits interchangeable. Un châssis sous pression permet de maintenir correctement la carte à circuits contre le plan d'interface pour assurer la connexion électrique. Ce châssis est tiré en direction du châssis d'interface par une came et un mécanisme de fente à came inclinée est actionné par un bras de levier.
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN.
African Regional Intellectual Property Organization (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)