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1. (WO1997022013) JTAG TESTING OF BUSES USING PLUG-IN CARDS WITH JTAG LOGIC MOUNTED THEREON
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/022013    International Application No.:    PCT/US1996/018228
Publication Date: 19.06.1997 International Filing Date: 13.11.1996
IPC:
G01R 31/3185 (2006.01), G06F 11/267 (2006.01)
Applicants: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; Samsung Main Building, 250, 2-Ka, Taepyung-Ro, Chung-ko, Seoul 100-742 (KR)
Inventors: MOTE, L., Randall, Jr.; (US)
Agent: SIMPSON, Andrew, H.; Knobbe, Martens, Olson and Bear, 16th floor, 620 Newport Center Drive, Newport Beach, CA 92660 (US)
Priority Data:
08/569,751 08.12.1995 US
Title (EN) JTAG TESTING OF BUSES USING PLUG-IN CARDS WITH JTAG LOGIC MOUNTED THEREON
(FR) TEST JTAG DE BUS AU MOYEN DE CARTES ENFICHABLES SUR LESQUELLES EST MONTEE UNE LOGIQUE JTAG
Abstract: front page image
(EN)A plug-in JTAG test card (200) includes JTAG boundary scan circuitry (230) which may be used to drive JTAG test data out onto portions of buses (170, 195) connected to peripheral slots (160, 180, 190). One or more of the JTAG plug-in test cards (200) can be used to verify the integrity of each of the point-to-point connections on the buses (170, 195) which terminate in the peripheral plug-in slots. In one advantageous embodiment, the plug-in JTAG test cards (200) simulate a dual in-line memory module (DIMM) or single in-line memory module (SIMM) cards which include scan test buffer circuitry (230) but do not actually include memory chip so that an inexpensive plug-in card (200) can be used to provide JTAG testing at the manufacturing level for multiple motherboards (600). In a particularly preferred embodiment, JTAG boundary scan buffer circuits (230), such as, for example, SN74ABT8245's, are used as test circuits rather than for their intended use as interface circuits.
(FR)Carte de test JTAG enfichable (200) comprenant un circuit de test périphérique (230) pouvant être utilisé pour envoyer des données de test JTAG sur des parties de bus (170, 195) reliées aux fentes de périphériques (160, 180, 190). Une ou plusieurs cartes de test enfichables (200) peuvent être utilisées pour vérifier l'intégrité de chacune des connexions point à point sur les bus (170, 195) qui aboutissent aux fentes de branchement de périphériques. Selon un mode de réalisation avantageux, les cartes de test JTAG enfichables (200) simulent un module mémoire en ligne double (DIMM) ou un module mémoire en ligne simple (SIMM) et des circuits tampons de test (230) mais ne comportent pas en fait de puce mémoire, de sorte qu'une carte enfichable peu coûteuse (200) peut être utilisée pour assurer les tests JTAG à la fabrication pour de multiples cartes-mères (600). Selon un mode de réalisation particulièrement préféré, les circuits tampons de test périphériques JTAG (230), tels que, par exemple, SN74ABT8245, sont utilisés comme circuits de test plutôt que comme circuits d'interface, leur utilisation normale.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)