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1. (WO1997020222) PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING A QUANTITY, IN PARTICULAR AN ELECTRIC CURRENT, WITH A HIGH MEASUREMENT RESOLUTION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/020222    International Application No.:    PCT/DE1996/002184
Publication Date: 05.06.1997 International Filing Date: 18.11.1996
Chapter 2 Demand Filed:    24.06.1997    
IPC:
G01R 15/24 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
BOSSELMANN, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BEIERL, Ottmar [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: BOSSELMANN, Thomas; (DE).
BEIERL, Ottmar; (DE)
Priority Data:
195 44 778.6 30.11.1995 DE
Title (DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUM MESSEN EINER MESSGRÖSSE, INSBESONDERE EINES ELEKTRISCHEN STROMES, MIT HOHER MESSAUFLÖSUNG
(EN) PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING A QUANTITY, IN PARTICULAR AN ELECTRIC CURRENT, WITH A HIGH MEASUREMENT RESOLUTION
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE D'UNE GRANDEUR, NOTAMMENT UN COURANT ELECTRIQUE, AVEC UNE HAUTE RESOLUTION DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Zum Messen der Meßgröße (I) in einem vorgegebenen Meßbereich (MR) werden ein erstes Meßsignal (M¿1?), das über dem Meßbereich (MR) eine eindeutige Funktion der Meßgröße (I) ist, und ein zweites Meßsignal (M¿2?), das im vorgegebenen Meßbereich (MR) eine periodische und nicht eindeutige Funktion der Meßgröße (I) ist, abgeleitet. Aus den beiden Meßsignalen (M¿1?, M¿2?) wird ein über dem Meßbereich (MR) eindeutiges drittes Meßsignal (M¿3?) abgeleitet, das wenigstens die Meßauflösung des zweiten Meßsignals (M¿2?) aufweist.
(EN)In order to measure a measured value (I) in a predetermined measurement range (MR), a first measurement signal (M¿1?), which is an unequivocal function of the measured quantity (I) in the measurement range (MR), and a second measurement signal (M¿2?), which is a periodic and equivocal function of the measurement value (I) in the predetermined measurement range (I), are generated. A third unequivocal measurement signal (M¿3?) in the measurement range (MR) which has at least the measurement resolution of the second measurement signal (M¿2?) is derived from the two measurement signals (M¿1?, M¿2?).
(FR)Afin de mesurer une grandeur (I) dans une plage prédéterminée de mesure (MR), on génère un premier signal de mesure (M¿1?) qui dans la plage de mesure (MR) est une fonction univoque de la grandeur mesurée (I) et un deuxième signal de mesure (M¿2?) qui dans la plage prédéterminée de mesure (MR) est une fonction périodique et non univoque de la grandeur mesurée (I). Un troisième signal de mesure (M¿3?) univoque dans la plage de mesure (MR) est dérivé des deux signaux de mesure (M¿1?, M¿2?). Le troisième signal de mesure (M¿3?) a au moins la résolution de mesure du deuxième signal de mesure (M¿2?).
Designated States: CA, JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)