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1. (WO1997018481) METHOD AND APPARATUS FOR USE IN IDDQ INTEGRATED CIRCUIT TESTING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/1997/018481 International Application No.: PCT/US1996/018426
Publication Date: 22.05.1997 International Filing Date: 15.11.1996
Chapter 2 Demand Filed: 03.06.1997
IPC:
G01R 31/30 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
30
Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
Applicants:
UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA [US/US]; Office of Research Division of Sponsored Research 4202 E. Fowler Avenue - FAO 126 Tampa, FL 33620-7900, US (AllExceptUS)
ATHAN, Stephan, P. [US/US]; US (UsOnly)
Inventors:
ATHAN, Stephan, P.; US
Agent:
STEIN, Stefan, V. ; Suite 1000 600 N. Westshore Boulevard Tampa, FL 33609, US
Priority Data:
60/006,78315.11.1995US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR USE IN IDDQ INTEGRATED CIRCUIT TESTING
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR L'ESSAI DES CIRCUITS INTEGRES EN COURANT D'ALIMENTATION AU REPOS (IDDQ)
Abstract:
(EN) A built-in current sensor circuit (BICS) for use in integrated circuit testing utilizing the quiescent power supply testing technique includes a detecting transistor (m10), an s-RAM (m5-m8, m3 and m9) cell and a buffer cell (m11-m14) electrically coupled in a cascaded configuration to perform a comparator function, a reference source (34) comprised of a current generating transistor (m1) and a voltage level setting transistor (m2), and an active output load (38) comprised of a single P-MOSFET (m12) sized to draw a unique amount of current when a respective circuit under test (CUT) is determined to be defective. Whereby the additional current drawn by the active output load (38) is readily observable on the bias line by an external standard off the shelf current monitor. The built-in current sensor circuit (BICS) thereby alleviating the excessive use of area overhead in deep submicron integrated circuits and the need for separately propagating a defect signal to an output pin.
(FR) L'invention concerne un circuit à détecteur de courant incorporé (BICS) destiné à être utilisé pour l'essai des circuits intégrés en courant d'alimentation au repos, et qui comprend un transistor de détection (m10), une cellule de mémoire RAM S (m5-m8, m3 et m9) et une cellule tampon (m11-m14) couplée électriquement dans une configuration en cascade en tant que comparateur, une source (34) de référence constituée d'un transistor (m1) fournisseur de courant et d'un transistor (m2) de réglage de tension, et une charge active (38) à la sortie constituée d'un élément (m12) à effet de champ MOS à canal P dimensionné pour prélever une quantité unique de courant lorsqu'un circuit déterminé et mis à l'essai (CUT) est donné comme défectueux. En l'occurence, le courant additionnel prélevé par la charge active (38) à la sortie est directement mesurable sur la ligne de polarisation, au moyen d'un contrôleur de courant externe classique disponible sur stocks. Ainsi, le circuit à détecteur de courant intégré (BICS) permet d'éviter toute utilisation excessive des fonctions auxiliaires d'une zone dans les circuits intégrés à déplétion profonde submicronique, et de ne pas envoyer nécessairement de manière séparée un signal de défaut à une broche de sortie.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
US6144214AU1996077363