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1. (WO1997012230) DETECTING CONTRABAND BY EMPLOYING INTERACTIVE MULTIPROBE TOMOGRAPHY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

IA Considered Withdrawn 1997-03-04 00:00:00.0


Pub. No.:    WO/1997/012230    International Application No.:    PCT/US1996/015359
Publication Date: 03.04.1997 International Filing Date: 25.09.1996
IPC:
G01V 5/00 (2006.01)
Applicants: VIVID TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 10 Commerce Way, Woburn, MA 01801 (US) (For All Designated States Except US).
KRUG, Kristoph, D. [US/US]; (US) (For US Only).
ELLENBOGEN, Michael [US/US]; (US) (For US Only).
HURD, Paul, J. [US/US]; (US) (For US Only).
TORTORA, John, O. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: KRUG, Kristoph, D.; (US).
ELLENBOGEN, Michael; (US).
HURD, Paul, J.; (US).
TORTORA, John, O.; (US)
Agent: KAVRUKOV, Ivan, S.; Cooper & Dunham L.L.P., 1185 Avenue of the Americas, New York, NY 10036 (US)
Priority Data:
08/533,956 26.09.1995 US
Title (EN) DETECTING CONTRABAND BY EMPLOYING INTERACTIVE MULTIPROBE TOMOGRAPHY
(FR) DETECTION DE CONTREBANDE PAR TOMOGRAPHIE MULTISONDE INTERACTIVE
Abstract: front page image
(EN)An inspection system for detecting a specific material of interest in packages includes a multi-view X-ray inspection probe (30) and one or more material sensitive probes. The multi-view X-ray inspection probe employs X-rays transmitted through or scattered from an examined item (14A; 14B) to identify a suspicious region (155) inside the item. An interface (110) is used to receive from the X-ray inspection probe X-ray data providing spatial information about the suspicious region and to provide this information to a selected material sensitive probe (140, 275). The material sensitive probe then acquires material specific information about the previously identified suspicious region and provides it to a computer to identify presence of the specific material in the suspicious region. The material sensitive probe may be a directional probe such as a coherent scatter probe, or a non-directional probe such as a Compton scatter probe or an NQR probe.
(FR)La présente invention concerne un système d'examen permettant de détecter dans des emballages une matière spécifiquement recherchée. Ce système comporte une sonde d'examen (30) multivue à rayons X et une ou plusieurs sondes réagissant à une matière. Pour identifier une région suspecte (155) à l'intérieur d'un objet, la sonde d'examen multivue à rayons X utilise l'émission de rayons X traversant l'objet examiné (14A, 14B) ou se diffusant depuis l'objet considéré. Une interface (110) sert, à recevoir de la sonde d'examen par rayons X des données rayons X fournissant des informations tridimensionnelles concernant la région suspecte, et à fournir ces informations à une sonde (140, 275) réagissant à une matière choisie. La sonde sensible à une matière acquiert ensuite des informations spécifiques de la matière concernant la région suspecte précédemment identifiée et remet ces informations à un ordinateur chargé d'identifier la présence de cette matière spécifique dans la région suspecte. La sonde sensible à une matière peut être une sonde directionnelle telle qu'une sonde à diffusion cohérente ou une sonde non directionnelle telle qu'une sonde à diffusion Compton ou une sonde NQR (à résonance quadripôle nucléaire).
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CZ, DE, DK, EE, ES, GB, GE, HU, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN.
African Regional Intellectual Property Organization (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)