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1. (WO1997008537) HANDHELD INFRARED SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/008537    International Application No.:    PCT/US1996/014128
Publication Date: 06.03.1997 International Filing Date: 30.08.1996
Chapter 2 Demand Filed:    28.03.1997    
IPC:
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/10 (2006.01), G01J 3/12 (2006.01), G01N 21/35 (2006.01)
Applicants: INFRARED FIBER SYSTEMS, INC. [US/US]; 2301-A Broadbirch Drive, Silver Spring, MD 20904 (US) (For All Designated States Except US).
LEVIN, Kenneth, H. [US/US]; (US) (For US Only).
KEREM, Samuel [US/US]; (US) (For US Only).
MADORSKY, Vladimir [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: LEVIN, Kenneth, H.; (US).
KEREM, Samuel; (US).
MADORSKY, Vladimir; (US)
Agent: BROWDY, Roger, L.; Browdy and Neimark, P.L.L.C., Suite 300, 419 Seventh Street N.W., Washington, DC 20004 (US)
Priority Data:
60/003,047 31.08.1995 US
Title (EN) HANDHELD INFRARED SPECTROMETER
(FR) SPECTROMETRE A INFRAROUGES TENU DANS LA MAIN
Abstract: front page image
(EN)A handheld device for infrared reflectance measurements of samples (M) for identification of the sample materials is a self-contained portable unit built into a handheld housing (10). The housing (10) includes a window (15) and optics on a bench (100) adjacent the window (15), so that the optics will be aligned with the sample (M) when the device is placed directly against the sample (M). The optics include a broad-band IR light source (110) shining onto an acousto-optic tunable filter (AOTF) (120), which passes narrow-band IR light with a swept frequency; a lens (130) focussing the IR through the window (15) onto the sample (M); and a reflectance detector (140) aligned with the window (15) of the housing (10) to detect reflected light. A computer (202), which may be mounted in the housing (10), compares the detected reflectance spectrum with stored sample data spectra, and identifies the material (M) or the components of the material (M) and their proportions.
(FR)Dispositif tenu dans la main, pour mesures du facteur de réflexion par infrarouges d'échantillons (M), en vue de l'identification des matériaux constituant lesdits échantillons, qui est une unité portable autonome placée dans un boîtier (10) tenu dans la main. Ledit boîtier (10) comporte une fenêtre (15) et un système optique sur une console (100) adjacente à la fenêtre (15) si bien que ledit système optique est aligné avec l'échantillon (M) lorsque ledit dispositif est placé directement contre l'échantillon (M). Ledit système optique comporte une source (110) de lumière IR à large bande qui brille sur un filtre accordable acousto-optique (120) qui fait passer de la lumière IR à bande étroite avec une fréquence de balayage; une lentille (130) qui focalise les infrarouges à travers la fenêtre (15) sur l'échantillon (M); et un détecteur de réflexion (140) aligné avec la fenêtre (15) du boîtier (10) pour détecter la lumière réfléchie. Un ordinateur (202) qui peut être monté dans le boîtier (10) compare le spectre de réflexion détecté avec des spectres de données d'échantillons stockées et identifie le matériau (M) ou les constituants du matériau (M) et leurs proportions.
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)