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1. (WO1997007611) SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/007611    International Application No.:    PCT/US1996/012992
Publication Date: 27.02.1997 International Filing Date: 09.08.1996
Chapter 2 Demand Filed:    11.03.1997    
IPC:
H04L 1/20 (2006.01)
Applicants: GENRAD, INC. [US/US]; 300 Baker Avenue, Concord, MA 01742 (US)
Inventors: SMITH, Marc, L.; (US).
DAOU, Fadi, H.; (US)
Agent: ATTAYA, Michael, E.; Cesari and McKenna, 30 Rowes Wharf, Boston, MA 02110 (US)
Priority Data:
08/514,011 11.08.1995 US
Title (EN) SYSTEM FOR MEASURING JITTER IN A NON-BINARY DIGITAL SIGNAL
(FR) SYSTEME POUR MESURER L'INSTABILITE DANS UN SIGNAL NUMERIQUE NON BINAIRE
Abstract: front page image
(EN)To measure various frequency components of the jitter with which the transition times in a signal on a signal line (44) of a device being tested deviate from nominal bit times; a sampler (40) responds to a reference clock (50) by sampling the signal at a rate high enough to determine the transition time with the required resolution. By employing a differentiator (60), test circuitry can detect not only zero crossings but all digital-level transitions, so relatively high jitter-frequency components can be measured. A Fourier-transform unit (76) computes jitter-frequency components from a resultant sequence of deviations from nominal transition times. Although computation of the lowest jitter-frequency components is necessarily based on a sequence that extends over a correspondingly long signal record, the input of a memory (48) that receives the raw samples from which those transition-time deviations are computed is so gated that the memory (48) receives only infrequently occurring bursts of the sampler's high-sample-rate output when the lower jitter frequencies are to be measured. A memory (48) of only moderate size can therefore be employed despite the necessarily high sample rate and necessarily long record duration.
(FR)L'invention concerne un système pour mesurer les diverses composantes de fréquences de l'instabilité avec laquelle les temps de transition dans un signal sur une ligne de signaux (44) d'un dispositif testé s'écartent des temps binaires nominaux. Un échantillonneur (40) répond à une horloge de référence (50) en échantillonnant le signal à une vitesse suffisamment élevée pour déterminer le temps de transition avec la résolution requise. En utilisant un différentiateur (60), un circuit d'essai (fig 3B) peut détecter non seulement les passages à zéro mais également toutes les transitions de niveau numériques, de telle sorte que des composantes de fréquence d'instabilité relativement élevées peuvent être mesurées. Une unité à transformée de Fourrier (76) calcule des composantes de fréquence d'instabilité à partir d'une séquence obtenue d'écarts par rapport aux temps de transition nominaux. Le calcul des plus faibles composantes de fréquence d'instabilité se fonde nécessairement sur une séquence qui s'étend sur un enregistrement de signaux longs correspondants, toutefois, l'entrée d'une mémoire (48) recevant les échantillons bruts à partir desquels les écarts de temps de transition sont calculés, est commandée par porte. De cette manière, cette mémoire (48) ne reçoit que les augmentations brusques d'amplitude de la sortie à vitesse d'échantillonnage élevée, se produisant infréquemment, lorsque les fréquences d'instabilité inférieures sont à mesurer. Une mémoire (48) de taille modérée uniquement peut, par conséquent, être utilisée en dépit de la vitesse d'échantillonnage nécessairement élevée, et de la durée d'enregistrement nécessairement longue.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)