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1. (WO1997006448) HIGH ACCURACY ELECTRONIC MATERIAL LEVEL SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/006448    International Application No.:    PCT/US1996/012499
Publication Date: 20.02.1997 International Filing Date: 30.07.1996
Chapter 2 Demand Filed:    05.02.1997    
IPC:
G01F 23/284 (2006.01), G01S 7/282 (2006.01), G01S 7/285 (2006.01), G01S 13/02 (2006.01), G01S 13/88 (2006.01)
Applicants: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA [US/US]; 22nd floor, 300 Lakeside Drive, Oakland, CA 94612 (US)
Inventors: McEWAN, Thomas, E.; (US)
Agent: SARTORIO, Henry, P.; P.O. Box 808, L-703, Livermore, CA 94550 (US)
Priority Data:
08/510,980 03.08.1995 US
Title (EN) HIGH ACCURACY ELECTRONIC MATERIAL LEVEL SENSOR
(FR) APPAREIL ELECTRONIQUE DE HAUTE PRECISION, POUR LA DETECTION DU NIVEAU D'UN MATERIAU
Abstract: front page image
(EN)The High Accuracy Electronic Material Level Sensor (electronic dipstick) is a sensor based on time domain reflectometry (TDR) of very short electrical pulses. Pulses are propagated along a transmission line or guide wire (20) that is partially immersed in the material being measured; a launcher plate (22) is positioned at the beginning of the guide wire (20). Reflected pulses are produced at the material interface due to the change in dielectric constant. The time difference of the reflection at the launcher plate (22) and at the material interface (24) or the time difference of the transmit pulse and the reflection at the material interface are used to determine the material level. Improved performance is obtained by the incorporation of: 1) a high accuracy time base (12) that is referenced to a quartz crystal; 2) an ultrawideband directional sampler (16) to allow operation without an interconnect cable (18) between the electronics module and the guide wire (20); and 3) constant fraction discriminators (CFD's 30, 32) that allow accurate measurements regardless of material dielectric constants, and reduce or eliminate errors induced by triple-transit or 'ghost' reflections on the interconnect cable (18).
(FR)L'appareil électronique de haute précision pour la détection du niveau d'un matériau (tige de jauge électronique) est un détecteur basé sur la réflectométrie à dimension temporelle, utilisant des impulsions électriques très courtes. Les impulsions se propagent le long d'une ligne de transmission ou d'un fil métallique de guidage (20) qui est immergé partiellement dans le matériau en cours de mesurage. Une plaque émettrice (22) est positionnée au début du fil de guidage (20). Les impulsions réfléchies sont produites à l'interface du matériau, par suite du changement de la constante diélectrique. La différence de temps entre la réflexion au niveau de la plaque émettrice (22) et à l'interface du matériau (24) ou la différence de temps entre l'émission de l'impulsion et la réflexion à l'interface du matériau sert à déterminer le niveau de matériau. Une performance améliorée est obtenue par l'adjonction: 1) d'une base de temps haute précision (12) utilisant un cristal de quartz comme référence; 2) d'un échantillonneur directionnel à bande ultra-large (16) permettant un fonctionnement sans câble d'interconnexion (18) entre le module électronique et le fil métallique de guidage (20 et 3) de discriminateurs à fraction constante (30, 32) qui permettent des mesures précises, indépendamment des constantes diélectriques du matériau et qui diminuent ou éliminent les erreurs induites par les réflexions à triple passage dites 'fantôme' sur le câble d'interconnexion (18).
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN.
African Regional Intellectual Property Organization (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)