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1. (WO1997004285) MOIRE INTERFEROMETRY SYSTEM AND METHOD WITH EXTENDED IMAGING DEPTH
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/1997/004285    International Application No.:    PCT/US1996/011851
Publication Date: 06.02.1997 International Filing Date: 17.07.1996
Chapter 2 Demand Filed:    13.02.1997    
IPC:
G01B 11/24 (2006.01), G01B 11/25 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01)
Applicants: THE BUDD COMPANY [US/US]; 3155 W. Big Beaver Road, Troy, MI 48084 (US)
Inventors: HARDING, Kevin, G.; (US)
Agent: OBERHOLTZER, Steven, L.; Harness, Dickey & Pierce, P.L.C., P.O. Box 828, Bloomfield Hills, MI 48303 (US).
SOSENKO, Eric, J.; Harness, Dickey & Pierce, P.L.C., P.O. Box 828, Bloomfield Hills, MI 48303 (US)
Priority Data:
08/503,707 18.07.1995 US
Title (EN) MOIRE INTERFEROMETRY SYSTEM AND METHOD WITH EXTENDED IMAGING DEPTH
(FR) SYSTEME ET PROCEDE D'INTERFEROMETRIE PAR MOIRE A PROFONDEUR D'IMAGERIE ETENDUE
Abstract: front page image
(EN)A moire interferometry system and method are provided for achieving full field surface contouring with an extended depth of view of image. The moire interferometry system includes a projection system generally made up of a light source, imaging lens and a square wave grating pattern. The imaging lens is configured to filter higher order light rays passing through the square wave grating pattern so as to project a sine wave like pattern onto a desired surface. The moire interferometry system also includes a viewing system generally made up of an imaging lens, a submaster grating and a camera. The submaster grating is preferably a customized grating that may be produced by recording a grating pattern in relation to a reference surface. The camera is able to view an image anywhere within the extended depth of image and analyze the moire fringes. A determination of deviation between a test part and a reference surface provides a part inspection system.
(FR)La présente invention décrit un système et un procédé d'interférométrie par moiré permettant d'obtenir une définition de contour de surface plein champ avec une profondeur de champ étendue d'image. Le système d'interférométrie par moiré se compose d'un système de projection comprenant d'une manière générale une source lumineuse, une lentille d'imagerie et une structure de grille à onde carrée. La lentille d'imagerie est configurée pour filtrer les rayons lumineux d'ordre élevé passant à travers la structure de grille à onde carrée, afin de projeter un motif de type sinusoïdal sur la surface concernée. Le système d'interférométrie par moiré se compose également d'un système de visualisation comprenant généralement une lentille d'imagerie, une sous-grille et une caméra. La sous-grille est de préférence une grille adaptée pouvant être produite par enregistrement d'un motif de grille en relation avec une surface de référence. La caméra est capable de voir une image n'importe où dans les limites de la profondeur de champ étendue d'image et d'analyser les bords de moiré. L'écart calculé entre une zone de test et une surface de référence permet de constituer un système de contrôle de la zone.
Designated States: AL, AM, AT, AU, AZ, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN.
African Regional Intellectual Property Organization (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)